一.概述
LWF-200兩用漆膜測厚儀采用磁性、渦流兩種測厚方法，可無損傷地檢測磁性金屬基體（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層的厚度（如：橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等）。本儀器廣泛地應用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業的儀器。
二.本儀器符合以下標準
GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測量（磁性方法）
GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量（渦流方法）
JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測厚儀
三.特點
便攜設計，手掌大小
采用高速的DSP芯片，具有快速的測量能力
人性化設計，簡單操作。
在雙用探頭時自動識別鐵基和非鐵基材質，無需手動轉換
兩種校準方式，零點校準和二點校準
寬角度LCD液晶顯示
公制和英制單位轉換
具有電源欠電壓提示
操作過程有蜂鳴聲提示
具有自動關機功能
四.測量原理
a)磁性法
當測頭與覆層接觸時，測頭與磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發生變化，通過測量其變化量，可測得其覆層的厚度。
b)渦流法
利用高頻交變電流線圈中產生一磁場，當測頭與金屬接觸時，金屬基體上會產生渦流，并對測頭具有反饋作用，通過其反饋作用的大小可測出覆層厚度。
五、技術參數
1.測量范圍：0-1200um
2.工作電源：兩節五號電池
3.測量精誤差：零點校準 ±（1.5+3%H）；二點校準±【（1%～3%H）】H+1.5
4.公英制轉換：um/mil轉換
5.分辨率：0.1um/1um（100um以下為0.1um）
6.環境溫度-10-40℃
7.相對濕度≤85%
8.最小基體10*10mm
9.最小曲率凸5mm;凹5mm
10.基體：0.4mm
11.重量：99克（含電池）
12.尺寸102mm*66mm*24mm
六、出廠清單
1.主機一臺
2.標準片 四片
3.基體 兩塊（限兩用測厚儀）
4.電池2兩顆
5.說明書一份
6.保修卡一張
7.合格證一份
LWF-200兩用漆膜測厚儀采用磁性、渦流兩種測厚方法，可無損傷地檢測磁性金屬基體（如：鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如：鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆層的厚度（如：橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等）。本儀器廣泛地應用于制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業的儀器。
二.本儀器符合以下標準
GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測量（磁性方法）
GB/T 4957-1985 非磁性金屬基體上非導電覆層厚度的測量（渦流方法）
JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測厚儀
三.特點
便攜設計，手掌大小
采用高速的DSP芯片，具有快速的測量能力
人性化設計，簡單操作。
在雙用探頭時自動識別鐵基和非鐵基材質，無需手動轉換
兩種校準方式，零點校準和二點校準
寬角度LCD液晶顯示
公制和英制單位轉換
具有電源欠電壓提示
操作過程有蜂鳴聲提示
具有自動關機功能
四.測量原理
a)磁性法
當測頭與覆層接觸時，測頭與磁性金屬基體構成一閉合磁路，由于非磁性覆層的存在，使磁路磁阻發生變化，通過測量其變化量，可測得其覆層的厚度。
b)渦流法
利用高頻交變電流線圈中產生一磁場，當測頭與金屬接觸時，金屬基體上會產生渦流，并對測頭具有反饋作用，通過其反饋作用的大小可測出覆層厚度。
五、技術參數
1.測量范圍：0-1200um
2.工作電源：兩節五號電池
3.測量精誤差：零點校準 ±（1.5+3%H）；二點校準±【（1%～3%H）】H+1.5
4.公英制轉換：um/mil轉換
5.分辨率：0.1um/1um（100um以下為0.1um）
6.環境溫度-10-40℃
7.相對濕度≤85%
8.最小基體10*10mm
9.最小曲率凸5mm;凹5mm
10.基體：0.4mm
11.重量：99克（含電池）
12.尺寸102mm*66mm*24mm
六、出廠清單
1.主機一臺
2.標準片 四片
3.基體 兩塊（限兩用測厚儀）
4.電池2兩顆
5.說明書一份
6.保修卡一張
7.合格證一份
