公司介紹：
NTT-AT有著多年的X射線、極紫外光學配件的研發與銷售經驗。在范圍內，通過與眾多來自同步輻射科學，阿秒科學，高強度物理學等領域的科學研究者開展緊密合作，積累了大量*的設計與制造技術，其產品在業內享有很高的評價。NTT-AT提供的菲涅爾波帶片有著高分辨率，高聚光效率等特點，適合被各種輻射光設施使用。另外，分辨率測試卡被當作業界的標準。不只是學術研究，在X射線的檢查裝置開發現場也被廣泛使用。XUV鏡片，XUV濾波片不僅對阿秒科學有著幫助，對下一代的光刻研究也有這重要作用。NTT-AT將在XUV,EUV, X線領域給予客戶在研發上的幫助。
產品介紹：
用于UV和VUV光電子能譜應用的聚焦透鏡 。 所 有 標 準 和 定 制 的 透 鏡 都 能 實 現< 5 μ m 角 分 辨 光 電 子 能 譜 實 驗（ ARPES）。
特點：
粒徑為5亞微米的角分辨光電子能譜（ARPES）實驗的必要組件。
可提供標準和定制設計。
電 子 能 譜 實 驗（ ARPES）。
標準模型
| AUL-250-190 | AUL-320-177 | |
|---|---|---|
| 透鏡材料 | Fused Silica | CaF2 |
| 透鏡鍍膜 | AR | AR |
| 波長 | 190-210nm | 177nm |
| 入射電子束直徑 | 1.7mm | 1.7mm |
| 焦距 | 250mm@190nm 310mm@210nm | 320mm@177nm |
| 長度 | ～145mm | ～250mm |
| 光通量 | 91%@190nm | 93%@177nm |
| 聚焦性能 | ＜5μm | ～5μm |
| 產品圖片 |
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應用：
角分辨光電子能譜（ARPES）
