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DM2400型MEDXRF輕元素光譜儀

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱上海愛斯特電子有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2021/6/29 16:56:02
訪問次數(shù)524

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公司介紹主營產(chǎn)品

上海愛斯特電子有限公司主要從事X射線類儀器特別是X射線熒光光譜儀的開發(fā)和生產(chǎn)。公司骨干具有數(shù)十年X射線熒光光譜儀的研制經(jīng)驗(yàn)，員工80%以上具有本科以上學(xué)歷。公司擁有單色激發(fā)X射線熒光分析技術(shù)等核心技術(shù)及多項(xiàng)。公司自1992年成立以來，已生產(chǎn)DM系列X熒光鈣鐵分析儀、測(cè)硫儀、多元素分析儀、波長色散光譜儀等一萬多臺(tái)。公司還大量生產(chǎn)X射線灌裝液位計(jì)、X射線測(cè)厚儀等。公司用戶遍布全國各地，在建材行業(yè)，全國水泥廠大部分已使用本公司的分析儀，在石油、環(huán)保行業(yè)，本公司的X熒光測(cè)硫儀*。目前公司還涉足冶金、化工、地質(zhì)、礦山、電子電氣、食品機(jī)械等多個(gè)行業(yè)。公司位于人杰地靈的金山區(qū)，在國家高速公路G1501亭楓公路出口旁，公司占地12畝，廠房面積7500平方米，固定資產(chǎn)近億元。本公司每年的科技投入占銷售額的15%以上。公司產(chǎn)品無論技術(shù)、質(zhì)量、*均居國內(nèi)地位，擁有多項(xiàng)，部分產(chǎn)品達(dá)到甚至超過國外同類產(chǎn)品。其中DM2100型X熒光多元素分析儀被認(rèn)定為上海市*成果轉(zhuǎn)化項(xiàng)目，并獲上海市科技創(chuàng)新基金和國家發(fā)明。目前本公司所有產(chǎn)品均已不使用同位素放射源，并張輻射豁免證書后，公司大部分儀器均已獲得輻射豁免證書，均為真正綠色環(huán)保產(chǎn)品。

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石油測(cè)硫儀,能散型XRF,鈣鐵煤分析儀

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

滿足國Ⅴ、國VI對(duì)車用汽柴油超低S檢測(cè)要求。超低檢測(cè)限（300s）：Si:0.7ppm，P:0.4ppm，S:0.15ppm，Cl:0.08ppm。采用單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MEDXRF)分析技術(shù)，高衍射效率對(duì)數(shù)螺線旋轉(zhuǎn)雙曲面(LSDCC)人工晶體，高計(jì)數(shù)率(2Mcps)和分辨率(123eV)的SDD探測(cè)器，合理kV、mA、靶材組合的微焦斑薄鈹窗X射線管。...

DM2400型MEDXRF輕元素光譜儀產(chǎn)品信息

DM2400型

MEDXRF輕元素光譜儀

滿足國Ⅴ、國VI對(duì)車用汽柴油超低S檢測(cè)要求

超低檢測(cè)限（300s）：

Si: 0.7ppm，P: 0.4ppm，

S: 0.15ppm，Cl: 0.08ppm

采用

單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MEDXRF)分析技術(shù)

高衍射效率對(duì)數(shù)螺線旋轉(zhuǎn)雙曲面(LSDCC)人工晶體

高計(jì)數(shù)率(2Mcps)和分辨率(123eV)的SDD探測(cè)器

合理kV、mA、靶材組合的微焦斑薄鈹窗X射線管

符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 11140

ISO20884

ASTM D2622

ASTM D7039

ASTM D7220

ASTM D7757

ASTM D7536

ISO 15597

ASTM D6481

概述

DM2400型單色激發(fā)能量色散X射線熒光輕元素（Si、P、S、Cl）光譜儀，簡稱DM2400型MEDXRF輕元素光譜儀，是本公司集數(shù)十年X熒光光譜儀的研究經(jīng)驗(yàn)，在公司原有的DM系列X熒光測(cè)硫儀、X熒光多元素分析儀、波長色散X射線熒光多道光譜儀等的基礎(chǔ)上研制推出的本公司款單色激發(fā)XRF光譜儀。它采用以下技術(shù)和器件，使采用50W光管的能譜儀DM2400具有出色的再現(xiàn)性和穩(wěn)定性，超低檢出限，實(shí)已將現(xiàn)代科技發(fā)揮到。

單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MEDXRF)分析技術(shù)

X射線熒光光譜儀的檢出限LOD（limit ofdetection）是指由基質(zhì)空白所產(chǎn)生的儀器背景信號(hào)標(biāo)準(zhǔn)偏差的3倍值的相應(yīng)量，即：

（1）

式中，R_b為背景（本底）計(jì)數(shù)強(qiáng)度，N為已知濃度為C的低濃度試樣的計(jì)數(shù)強(qiáng)度，T為測(cè)量時(shí)間。從式（1）可以看出檢出限與靈敏度（N-R_b）/C成反比，與背景R_b的平方根成正比。在測(cè)量時(shí)間一定的情況下要降低檢出限，就必須提高靈敏度和（或）降低背景。

圖1.MEDXRF分析技術(shù)原理圖

傳統(tǒng)XRF，無論是EDXRF還是WDXRF，無法實(shí)現(xiàn)較低檢出限的一個(gè)主要原因是X射線光管出射譜中連續(xù)軔致輻射的散射使得熒光光譜的連續(xù)散射背景較高。

單色激發(fā)能量色散X射線熒光(MonochromaticExcitation Beam Energy Dispersive X-Ray Fluorescence)分析技術(shù)，就是采用光學(xué)器件將X射線光管出射譜單色化，進(jìn)而使得熒光光譜的連續(xù)散射背景極大地降低，同時(shí)盡可能少的降低甚至于可能的話增加所需激發(fā)X射線的單色化的線或窄能量帶的強(qiáng)度，從而大大降低了檢出限。相比傳統(tǒng)的EDXRF降低了1至2個(gè)數(shù)量級(jí)，相比大功率（如4kw）的WDXRF也要低得多。

圖2.樣品的XRF光譜圖

高衍射效率對(duì)數(shù)螺線旋轉(zhuǎn)點(diǎn)對(duì)點(diǎn)聚焦人工單色晶體

將X射線光管出射譜單色化的方法很多，有濾波片法，二次靶法和衍射法等。而衍射法中的雙曲面衍射晶體DCC（DoublyCurvedCrystals）是單色化和高的。

衍射必須滿足Bragg定律：

nλ=2dsinθ （2）

也就是說從源出射的射線其波長必須滿足（2）式才被衍射，所以其具有的單色化。又由于DCC能將點(diǎn)源聚焦，所以有大的收集立體角，從而有*的效率。另外，聚焦還能使照射到樣品的光斑很小，從而使小面積的半導(dǎo)體探測(cè)器Si-PIN或SDD可以接受大部分樣品較小面中的熒光射線，也就是說DCC還提高了探測(cè)效率。

圖3.實(shí)線為X射線管的出射譜，

紅色為經(jīng)LSDCC單色化的特征X射線入射譜

DCC按其曲面又分為半聚焦（Johann），全聚焦（Johansson）和對(duì)數(shù)螺線（Logarithmic Spiral）等。其中半聚焦只是部分滿足衍射條件，所以經(jīng)半聚焦DCC單色化的特征X射線入射譜是最差的。全聚焦是*衍射條件且是點(diǎn)對(duì)點(diǎn)聚焦的。但全聚焦DCC的制造工藝極其復(fù)雜，除彎曲外它必須有一個(gè)磨成R曲面的過程，天然晶體如Si，Ge等是很脆的，極不容易磨制，而人工晶體是不可能磨制的，另外天然晶體通常在非常窄的光譜區(qū)域中衍射X射線。導(dǎo)致靶材特征X射線只有一部分被衍射，積分衍射率低。

DM2400采用的對(duì)數(shù)螺線旋轉(zhuǎn)雙曲面人工晶體DM30L，是集本公司技術(shù)精英經(jīng)2年的刻苦專研研制而成的產(chǎn)品。對(duì)數(shù)螺線DCC也是*衍射條件的，雖然聚焦不是點(diǎn)對(duì)點(diǎn)的，而是點(diǎn)對(duì)面的，但由于這個(gè)面很小，一般只有2mm左右，所以可認(rèn)為是點(diǎn)對(duì)點(diǎn)的。它用的是DM人工晶體，該晶體的積分衍射率是天然晶體的3到10倍，所以該晶體的效率是目前高的。另外，它只需彎曲無需磨制和拼接，制造方便。

圖4. LSDCC點(diǎn)對(duì)點(diǎn)聚焦原理圖

高分辨率(123eV)高計(jì)數(shù)率(2Mcps)的SDD探測(cè)器

X射線探測(cè)器的種類有很多，有正比計(jì)數(shù)管，Si-PIN探測(cè)器和硅漂移探測(cè)器SDD等。探測(cè)器的分辨率以峰的半寬度表示，峰的凈計(jì)數(shù)與半寬度無關(guān)，但其背景計(jì)數(shù)與半寬度成正比，所以分辨率越高則檢出限越低。正比計(jì)數(shù)管的半寬度是半導(dǎo)體探測(cè)器的8倍左右，所以檢出限高8的平方根倍左右。Si-PIN的分辨率比SDD的稍差，且其在高計(jì)數(shù)率下分辨率急劇下降，所以SDD是探測(cè)器。

DM2400采用德國KETEK公司生產(chǎn)的VITUS H20 CUBE()SDD探測(cè)器，其分辨率小于123eV，有效探測(cè)面積20mm²，計(jì)數(shù)率2Mcps。

圖5. 硅漂移探測(cè)器SDD

合理kV、mA、靶材組合的微焦斑薄鈹窗X射線管

激發(fā)樣品的X射線能量越接近所需分析元素的吸收限，其激發(fā)效率就越高。DM30L晶體僅衍射X射線管出射譜中的高強(qiáng)度特征X射線，其有靶材發(fā)出。所以合理的選用靶材能得到的激發(fā)效率。DM2400標(biāo)準(zhǔn)型由于可測(cè)量Cl以下的元素，所以選擇Ag作為靶材。

選定靶材后，在X射線光管功率一定的情況下，如50W，合理的光管高壓（kV）和電流（mA）組合能達(dá)到的激發(fā)效率。由于采用點(diǎn)對(duì)點(diǎn)的聚焦，所以必須采用微焦斑的X光管。由于靶材的特征X射線能量很低，所以必須用薄鈹窗X射線管。

DM2400采用50W微焦斑薄鈹窗X射線管，標(biāo)準(zhǔn)型選用Ag靶，并對(duì)kV、mA進(jìn)行合理組合。

圖6. 微焦斑薄鈹窗X射線管

標(biāo)定

用已知含量的7個(gè)含Si、P、S、Cl樣品對(duì)儀器進(jìn)行標(biāo)定，得圖7的工作曲線。

圖7. 含Si、P、S、Cl樣品工作曲線

這些工作曲線的相關(guān)系數(shù)γ 均大于0.999，表示DM2400光譜儀的線性誤差極小。

準(zhǔn)確度

為了進(jìn)一步測(cè)試分析的準(zhǔn)確性，制備了具有不同硫含量的柴油和輕質(zhì)油的五個(gè)樣品，每個(gè)樣品裝入兩個(gè)不同的樣品杯中進(jìn)行S準(zhǔn)確度試驗(yàn)：

表2. 用五個(gè)未知樣品測(cè)定S分析的準(zhǔn)確度結(jié)果

樣品	標(biāo)稱值（ppm）	1號(hào)樣品杯（ppm）	2號(hào)樣品杯（ppm）
柴油5	5	4.91	4.82
柴油3	3	3.02	3.05
汽油2	2	2.12	2.00
汽油10	10	10.8	10.2
汽油25	25	24.5	25.2

表2示出了獲得的濃度結(jié)果（ppm），以及與標(biāo)稱值的比較。這些結(jié)果表示在低濃度水平下，用DM2400光譜儀可以實(shí)現(xiàn)S的優(yōu)異的準(zhǔn)確度。

精確度

對(duì)三種，每種各裝入七個(gè)不同樣品杯的汽油樣品進(jìn)行S重復(fù)性試驗(yàn)：

表1. S汽油樣品S分析的重復(fù)性測(cè)試數(shù)據(jù)

樣品杯號(hào)	第1種樣品（ppm）	第2種樣品（ppm）	第3種樣品（ppm）
1	1.15	5.31	10.32
2	1.08	4.92	9.89
3	0.90	5.05	10.11
4	0.93	4.78	9.67
5	1.01	4.88	9.51
6	1.03	5.16	9.90
7	0.97	5.26	9.81
平均值	1.01	5.05	9.89
標(biāo)準(zhǔn)偏差	0.086	0.201	0.269
RSD	8.6%	4.00%	2.69%

這些結(jié)果表示在低濃度水平下，用DM2400光譜儀可以實(shí)現(xiàn)S的優(yōu)異的重復(fù)性。

特點(diǎn)

快速同時(shí)–所需測(cè)量元素同時(shí)快速分析，一般幾十秒給出含量結(jié)果。

低檢出限–采用*MEDXRF技術(shù)，LSDCC核心技術(shù)，達(dá)檢出限。具*的重現(xiàn)性和再現(xiàn)性。

長期穩(wěn)定–采用可變?cè)鲆鏀?shù)字多道,有PHA自動(dòng)調(diào)整、漂移校正、偏差修正等功能，具的長期穩(wěn)定性。

環(huán)保節(jié)能–射線防護(hù)達(dá)豁免要求。分析時(shí)不接觸不破壞樣品，無污染，無需化學(xué)試劑，也不需要燃燒。

使用方便–觸摸屏操作。樣品直接裝入樣品杯，放入儀器后只需按[啟動(dòng)]鍵即可，真正實(shí)現(xiàn)一鍵操作。

高可靠性–一體化設(shè)計(jì)，集成化程度高，環(huán)境適應(yīng)能力強(qiáng)，抗*力強(qiáng)，可靠性高。

高性價(jià)比–無需鋼瓶氣體，運(yùn)行維護(hù)成本極低。價(jià)格為國外同類產(chǎn)品的一半。是真正的高性價(jià)比產(chǎn)品。

適用范圍

適用于煉油廠、檢測(cè)及認(rèn)證機(jī)構(gòu)、油庫、實(shí)驗(yàn)室測(cè)量范圍從0.5ppm到10%的各種油品(如汽油、柴油、重油、殘?jiān)剂嫌偷?/span>)、添加劑、含添加劑潤滑油、以及煉化過程中的產(chǎn)品。

亦適用于各行各業(yè)任何材料中Cl以下元素的同時(shí)測(cè)量

主要技術(shù)指標(biāo)

注：如用戶認(rèn)為標(biāo)準(zhǔn)型的DM2400不能滿足要求，可向本公司提出，本公司可盡可能滿足用戶的要求。如要求更低的檢測(cè)限，本公司可將晶體從1塊增加到3塊以降低檢測(cè)限為原來的1/1.73。如要求測(cè)量F以下原子序數(shù)的元素，本公司可為用戶選擇AP3.3入射窗的SDD。如用戶要在高S的基體下測(cè)微量Al和Si，本公司可將標(biāo)準(zhǔn)型的Ag靶改為Mo靶，以滿足用戶要求。