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臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

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公司名稱秋山科技（東莞）有限公司
品牌
型號
所在地東莞市
廠商性質經銷商
更新時間2024/3/20 11:23:33
訪問次數1282

產品標簽:

臺式測厚儀分光干涉式測厚儀光學薄膜厚度檢測平滑磨厚度檢測多層膜厚度檢測

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秋山科技（東莞）有限公司是一家專業從事日本進口色選機，碾米機（胚芽米機、精米機），農業用測定儀器（食味計、白度計、水分計、谷粒判別器），物性測定儀器，食品分析儀器，質構儀，流變儀，硬度計，光學儀器，人工太陽能燈等等銷售的科技型公司。秋山科技----世界分選產業*者，為眾多領域提供適合您的的色選機而努力。秋山科技不僅僅是色選機的專業銷售商，更是一家色選領域技術創新的*。秋山科技擁有*的食品色選技術（高級異物檢驗、生物特性、葉綠素含量、損壞、水分含量、霉菌毒素、異物、小斑點、細微色差、細微瑕疵），透明塑料粒子色選技術（篩選塑料粒子黑點和變色異物、可以篩選的原料及異物舉例PET, PBT, POM, PS, PP, PA, PC, ABS, PBT, PE, PPS, PVA, SAP）。

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農用機械，設備/物性測定儀器/食品分析儀器/光學儀器/人工太陽能燈

產品簡介在線詢價

測量范圍	1	類型	數字式

日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S
實現高測量重復性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）
不易受溫度變化的影響
可以生產用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。
反射型允許從薄膜的一側進行測量
僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）

臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S 產品信息

日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

產品特點

實現高測量重復性（± 0.01 μm 或更小，取決于對象和測量條件）
不易受溫度變化的影響
可以生產用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。
反射型允許從薄膜的一側進行測量
僅可測量透明涂膜層（取決于測量條件）
模型飛行時間
測量方法非接觸式/光譜干涉式
測量對象電子和光學用透明平滑膜、多層膜
測量原理光譜干擾型
日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S

模型	飛行時間
測量方法	非接觸式/光譜干涉式
測量對象	電子和光學用透明平滑膜、多層膜
測量原理	光譜干擾型

產品規格

測量厚度	1～50μm（薄材料）、10～150μm（厚材料）
測量長度	50-5000 毫米
測量間距	1 毫米 ~
小顯示值	0.001微米
電源電壓	AC100 V 50/60 Hz
工作溫度限制	5～45℃（測量時溫度變化1℃以內）
濕度	35-80%（無冷凝）
測量區域	φ0.6 毫米
測量間隙	約 30 毫米