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NANOVEA非接觸式三維表面形貌儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱上海艾堯科學(xué)儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2021/6/15 16:40:47
  • 訪問次數(shù)371
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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上海艾堯科學(xué)儀器有限公司,是一家專業(yè)的高科技儀器與設(shè)備供應(yīng)商。我們通過引進(jìn)進(jìn)儀器設(shè)備,助力中國(guó)科技事業(yè)的發(fā)展。我們的客戶遍布各大高校、科研所、納米材料領(lǐng)域、半導(dǎo)體行業(yè)、汽車行業(yè)、機(jī)械制造、石油化工等領(lǐng)域。 目前,上海艾堯科學(xué)儀器有限公司是韓國(guó)Park Systems公司、俄羅斯Ostec公司、美國(guó)NANOVEA公司、瑞士Lin-Tech公司、法國(guó)Normalab公司在中國(guó)的代理商,負(fù)責(zé)相關(guān)儀器設(shè)備在中國(guó)的銷售、技術(shù)支持以及售后服務(wù)。產(chǎn)品包括:原子力顯微鏡、微納米壓痕儀、微納米劃痕儀、顯微拉曼光譜儀、顯微紅外光譜儀、油品分析儀器、元素分析儀等諸多產(chǎn)品。公司在納米材料表征、顯微分析、三維形貌、油品分析領(lǐng)域可提供完整的解決方案。 我司的服務(wù)宗旨為:專業(yè)成就品質(zhì),服務(wù)創(chuàng)造價(jià)值,誠(chéng)信鑄就品牌。 我們真誠(chéng)期待與您的合作共贏!
激光拉曼光譜,納米壓痕儀,半導(dǎo)體檢測(cè)儀
NANOVEA ST400非接觸式三維形貌儀
NANOVEA非接觸式三維表面形貌儀 產(chǎn)品信息
  • 產(chǎn)品簡(jiǎn)介
    ST400型三維表面輪廓儀是一款多功能的三維形貌儀,采的白光共聚焦技術(shù),可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試,具有測(cè)量精度高,速度快,重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn),該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品,并具有多種選項(xiàng),包含360°旋轉(zhuǎn)工作臺(tái),原子力顯微鏡模塊,光學(xué)顯微鏡,特征區(qū)域定位等多種功能模塊。

  • 產(chǎn)品原理:采用白光共聚焦色差技術(shù),可獲得納米級(jí)的分辨率

                                                              

      - 利用白光點(diǎn)光源,光線經(jīng)過透鏡后產(chǎn)生色差,不同波長(zhǎng)的光分開后入射到被測(cè)樣品上。

        - 位于白光光源的對(duì)稱位置上的超靈敏探測(cè)器系統(tǒng)用來接收經(jīng)被測(cè)點(diǎn)漫反射后的光。

        - 根據(jù)準(zhǔn)共聚焦原理,探測(cè)器系統(tǒng)只能接收到被測(cè)物體上單點(diǎn)反射回來的特定波長(zhǎng)的光,從而得到這個(gè)點(diǎn)距離透鏡的垂直距離。

        - 再通過點(diǎn)掃描的方式可得到一條線上的坐標(biāo),即X-Z坐標(biāo)

         - 最后以S路徑獲得物體每個(gè)點(diǎn)的三維X-Y-Z坐標(biāo)

         - 最后將采集的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)交給專業(yè)的三維處理軟件進(jìn)行各種表面參數(shù)的分析。 

         - 軟件能夠自動(dòng)獲取用戶關(guān)心的表面形貌參數(shù)。

  • 產(chǎn)品特性:

       - 采用白光共聚焦色差技術(shù),可獲得納米級(jí)的分辨率
       - 測(cè)量具有非破壞性,測(cè)量速度快,精確度高
       - 測(cè)量范圍廣,可測(cè)透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋 光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、     光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…);
       - 尤其適合測(cè)量高坡度高曲折度的材料表面
       - 不受環(huán)境光的影響
      - 測(cè)量簡(jiǎn)單,樣品無需特殊處理
      - Z方向測(cè)量范圍大:為27mm

  • 主要功能:

        - 可創(chuàng)建任意區(qū)域的2D曲線圖或2D等高線分布圖;

     可創(chuàng)建任意區(qū)域的3D圖像;

  自動(dòng)得到樣品的一維線粗糙度參數(shù)(Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku);

 - 自動(dòng)得到樣品的二維面粗糙度(Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku);

 - 可得到樣品的平整度,波紋度等參數(shù);

 - 自動(dòng)校準(zhǔn)功能,例如粗糙度,一般情況下對(duì)于曲面樣品,首先展平,然后自動(dòng)給出粗糙度的參數(shù);

 - 具有尺寸測(cè)量:長(zhǎng)度,寬度,角度,深度,臺(tái)階高度;

- 可測(cè)孔洞磨損面積,磨損體積等參數(shù);

- 具有功率譜密度測(cè)試功能;

      - 具有分形統(tǒng)計(jì)功能;

   ......  

  • 主要技術(shù)參數(shù):
    - XY全自動(dòng)掃描范圍:150×150(mm)
    - XY掃描步長(zhǎng):0.1μm
    - 掃描速度:20mm/s

       - Z方向測(cè)量范圍:27mm
       - Z方向測(cè)量分辨率:2nm 
 

  • 產(chǎn)品應(yīng)用:

     MEMS、半導(dǎo)體材料、太陽能、摩擦磨損、汽車、腐蝕、砂紙、巖石等。

產(chǎn)品對(duì)比
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