高分辨率背照式CCD光纖光譜儀
美國SP高分辨率背照式CCD光纖光譜儀SM642是一款專為弱光譜探測量身打造高性價比光譜儀。配置非制冷型的紫外增強的背照式CCD探測器，像素高達2048，同時具有很高的動態范圍。確保在更寬的光譜探測范圍內擁有很高的光譜分辨率。
通信接口采用通用的USB 1.1/2.0，16-bit精度。配套SM32Pro Windows操作軟件易學易用，同時包含有SDK和DLLs，可供二次開發。
產品特點 * 高性價比，科研級性能 * 低噪聲，低雜散光 * 高信噪比和較好的動態范圍 * 高紫外增強探測器 * 靈活的光學輸入，狹縫和光纖可選 * 高速獲得數據 * 波長范圍覆蓋200-1050 nm * 為弱光條件新升級的自動快門 |
型號 | SM642 |
探測器 | Hamamatsu S10420-1106非制冷背照式CCD 像素：2048×64 像元：14μm×14μm 阱深：200 ke- 量子效率： >90% @650nm, 65% @250nm |
光譜范圍 | 200-1050 nm |
分辨率 | 0.15 to 10nm（取決于光柵和狹縫） |
雜散光 | <0.01% at 632nm (<0.05% Ave) |
F/# | 3.3 |
暗噪聲rms | < 7 counts in 16bit @35ms |
信噪比 | >450: 1 |
最小積分時間 | 7 ms |
數據接口 | USB 1.1/2.0 16 bit |
光纖接口 | SMA905/FC |
觸發模式 | 自由運行模式 軟件觸發 硬件觸發：(9-pin connector): TTL邊緣觸發輸入/數字輸出 |
軟件 | SM32Pro (free with spectrometer) |
尺寸 | 5.98 H X 3.94 W X 2.50 D |
重量 | 2.7 lbs. |
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