X 射線熒光測試儀，涂層測厚儀d3，配有多毛細(xì)孔 X 射線光學(xué)系統(tǒng)，電鍍層測厚儀，可自動測量和分析微小部件及結(jié)構(gòu)上鍍層厚度和成分。
XDV-u鍍層厚度測量儀特點(diǎn)
- 優(yōu)化的微區(qū)分析測試儀器
- 根據(jù)X射線光學(xué)系統(tǒng)，涂層測厚儀 epk，可以對100 μm或更小的結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析
- *的能量強(qiáng)度，穿透涂層測厚儀，從而實(shí)現(xiàn)出色的精度
- 即使對于薄鍍層，指針涂層測厚儀，測量的不確定度也有可能做到 < 1 nm
- 只適用于平面的或是接近平面的樣品
- 底部C型開槽的大容量測量艙
- 通過快速、可編程的 XY 工作臺進(jìn)行自動測量
XDV-u鍍層厚度測量儀典型應(yīng)用領(lǐng)域
- 測量印刷線路板、引線框架和芯片上的鍍層系統(tǒng)
- 測量細(xì)小部件和細(xì)電線上的鍍層系統(tǒng)
- 分析微小結(jié)構(gòu)和微小部件的材料成分
