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納米粒度及zeta電位儀

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱大昌華嘉科學儀器
  • 品       牌
  • 型       號Nanotrac w
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2022/7/12 13:32:59
  • 訪問次數365
產品標簽:

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大昌華嘉是一家專注于亞洲地區,在市場拓展服務領域處于地位的集團。大昌華嘉致力于幫助其他公司和品牌拓展在消費品、醫藥保健、特色原料、科技事業領域的業務。大昌華嘉于1865年成立,憑借深厚的瑞士傳統背景,公司在亞洲開展業務歷史悠久,深深植根于亞太地區的社會和企業界。大昌華嘉儀器部專業提供分析儀器及設備,代理眾多歐美*儀器,產品范圍包括:顆粒,物理,化學,生化,通用實驗室的各類分析儀器以及流程儀表設備,在中國的石化,化工,制藥,食品,飲料,農業科技等諸多領域擁有大量用戶,具有良好的市場聲譽。我們的業務逐年增加,市場不斷擴大。大昌華嘉公司在中國設有多個網點,旨在為客戶提供的產品和服務。
定氮儀,有機元素分析,蛋白測定儀
納米粒度及zeta電位儀
納米粒度及zeta電位儀 產品信息
產品詳情

公司介紹:

美國麥奇克有限公司(Microtrac Inc.)是*的激光應用技術研究和制造廠商,其*的激光粒度分析儀已廣泛應用于水泥,磨料,冶金,制藥,石油,石化,陶瓷,等領域,并成為眾多行業的質量檢測和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術創新,近半個世紀以來,一直著激光粒度分析的前沿技術,可靠的產品和強大的應用支持及完善的售后服務,使得其不斷超越自我,推陳。

Microtrac在在線顆粒大小和形狀測量方面有超過25年經驗,了解過程加工環境的所有需求,在線測量的好處就是讓操作者能實時的看到過程的變化,使他們立即作出反應,得到高質量的產品。


儀器簡介:

納米粒度測量——動態光背散射技術

隨著顆粒粒徑的減小,例如分子級別的大小,顆粒對光的散射效率急劇降低,使得經典動態光散射技術的自相關檢測(PCS)變得更加不確定。40多年來,Microtrac公司一直致力于激光散射技術在顆粒粒度測量中的應用。作為行業的先鋒,早在1990年,超細顆粒分析儀器 UPA(UltrafineParticle Analyzer)研發成功,*引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生頻率變化的能譜概念,快速準確地得到被測體系的納米粒度分布。2001年,利用背散射(Back-scattered)和異相多譜勒頻移(HeterodyneDoppler Frequency Shifts)技術,結合動態光散射理論和*的數學處理模型,NPA150/250將分析范圍延伸至0.3nm-10μm,樣品濃度更可高達百分之四十,基本實現樣品的原位檢測。異相多普勒頻移技術采用可控參考穩定頻率,直接比照因顆粒的布朗運動而產生的頻率漂移,綜合考慮被測體系的實時溫度和粘度,較之于傳統的自相關技術,信號強度高出幾個數量級。另外,新型“Y”型梯度光纖探針的使用,實現了對樣品的直接測量,*的減少了背景噪音,提高了儀器的分辨率。


Zeta電位測量:

美國麥奇克有限公司(Microtrac Inc.)以其在激光衍射/散射技術和顆粒表征方面的獨到見解,經過多年的市場調研和潛心研究,開發出一代Nanotrac wave II微電場分析技術,融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體,無需傳統的比色皿,一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數據。與傳統的Zeta電位分析技術相比,Nanotrac wave II采用*的“Y”型光纖探針光路設計,配置膜電極產生微電場,操作簡單,測量迅速,無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層,無需外加大功率電場,無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池,*消除由于空間位阻(不同光學元器件間的傳輸損失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差異,分散介質的影響,顆粒間多重散射等)帶來的光學信號的損失,結果準確可靠,重現性好。


測量原理:

粒度測量:動態光背散射技術和全量程米氏理論處理

Zeta電位測量:膜電極設計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率

分子量測量:水力直徑或德拜曲線


光學系統:

3mW780nm半導體固定位置激光器,通過梯度步進光纖直接照射樣品,在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號,無需校正光路


軟件系統:

*的Microtrac FLEX軟件提供強大的數據處理能力,包括圖形,數據輸出/輸入,個性化輸出報告,及各種文字處理功能,如PDF格式輸出, Internet共享數據,Microsoft Access格式(OLE)等。體積,數量,面積及光強分布,包括積分/微分百分比和其他分析統計數據。數據的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保護,電子簽名和*等。


外部環境:

電源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz

環境要求:溫度,10-35°C

標準:符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008


主要特點:

? 采用的動態光散射技術,引入能普概念代替傳統光子相關光譜法

? 的“Y”型光纖光路系統,通過藍寶石測量窗口,直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布,在加載電流的情況下,與膜電極對應產生微電場,測量同一體系的Zeta電位, 避免樣品交叉污染與濃度變化。

? 的異相多譜勒頻移技術,較之傳統的方法,獲得光信號強度高出幾個數量級,提高分析結果的可靠性。

? 的可控參比方法(CRM),能精細分析多譜勒頻移產生的能譜,確保分析的靈敏度。

? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計,減少了多重散射現象的干擾,保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。

? 的快速傅利葉變換算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method),迅速處理檢測系統獲得的能譜,縮短分析時間。

? 膜電極設計,避免產生熱效應,能準確測量顆粒電泳速度。

? 無需比色皿,毛細管電泳池或外加電極池,僅需點擊Zeta電位操作鍵,一分鐘內即可得到分析結果

? 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾,諸如光路中不同光學元器件間傳輸的損失,樣品池位置不同帶來的誤差,比色皿器壁的折射與污染,分散介質的影響,多重散射的衰減等,提高靈敏度。

納米粒度及zeta電位儀

納米粒度及zeta電位儀 Nanotrac wave II

產品參數
粒度分析范圍 0.3nm-10µm
重現性 誤差≤1%
濃度范圍 100ppb-40%w/v
檢測角度 180°
分析時間 30-120秒
準確性 全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子
測量精度 無需預選,依據實際測量結果,自動生成單峰/多峰分布結果
理論設計溫度 0-90℃,可以進行程序升溫或降溫
兼容性 水相和有機相

15168338725
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