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產品信息： 東莞 惠普HP4286A精密LCR測試儀
HP4286A射頻LCR測試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量，以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。與反射測量技術不同，采用直流電壓測量技術能在大的阻抗范圍進行精確測量。
生產率高，質量可靠
HP4286A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4286A的測量非常快。此外，在小測試電流(100μA)處優良的測試重復性還可以顯著提高生產率，因為所需的取平均過程非常短。
系統組建簡單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近，而不會使誤差有任何增大。內置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內置統計分析功能可以提供監視測試質量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統一進行生產監控。此外，若干APC-7 SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配器聯用，從而無需制作夾具。
東莞 惠普HP4286A精密LCR測試儀技術指標
（全面的技術指標參見數據資料表）
測量參數 Z Y θ-z（度/弧度），θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同時顯示4種測量參數）。
測試頻率：1MHz～3GHz
頻率分辨力：100KHz
測試信號：
V:4.47mV～502mV(f≤1GHz); 4.47mV～447mV(f>1GHz)
I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz)
電平監視功能：電壓，電流
基本的Z精度：±1.0%
測量范圍：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%)
測量時間：每點9ms（速）
Rdc測量：可用于觸點檢查
校準：開路/短路/負載/低損耗電容量
補償：開路/短路,電長度
大容量存儲功能：30MB固態大容量存儲或2 GB硬盤（選擇選件）
接口：GPIB,LAN(10Base-T/100Base-Tx自動選擇)，處理器接口二手Agilent HP 4286A精密LCR測試儀
顯示：8.4英寸彩色LCD顯示器
一般指標
電源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax，
工作溫度/濕度:5℃～40℃,相對濕度20%～80%
尺寸：234mm高×425mm寬×445mm深（主機）
重量：16kg/0.3kg（典型值）（主機/測試頭）
射頻LCR測試儀
供應的附件：測試頭（1m），3.5mm～7mm適配器，16195B APC-7校準配件，鼠標器，鍵盤，操作手冊和電源線（4287A不提供測試夾具）
