雙面量測探針臺(上下點針方式) M-6系列
可兼容DC測試、射頻、高頻、微波測試
直流到高頻量測范圍
雙面量測探針臺(上下點針方式) 特點：
XY龍門式移動平臺，與顯微鏡精微調裝置配合，設計結構穩定，可操控范圍廣，放置樣品以及點針操作方便
可搭配體式顯微鏡/高倍率長工作距離視頻顯微鏡/高分辨率金相顯微鏡、熒光顯微鏡等…
探針座可根據移動精度選擇，吸附方式可選磁吸附或真空吸附
雙面式點針操作，樣品固定設計合理
規格：
組件/型號
M-6
顯微鏡配置
高倍率金相顯微鏡
目鏡配置：10X
物鏡配置：5X/10X/20X/50X/100 X
可放置樣品尺寸
3mm至 150mm(可選其它，夾具可選)
主體平臺XY移動行程
150mm*150mm（可選其它）
XY龍門架行程
根據樣品卡盤尺寸做方位移動
探針座配置
根據點針方式，定置完成
探針臺本體
固定式
可選項：
* 根據樣品尺寸選擇主體
* 體式顯微鏡/高分辨金相顯微鏡
* 客戶定制化移動平臺
* 各類樣品夾具
* 氣壓式顯微鏡升降調節
* 各類DC探針、高頻探針、主動式探針、電纜線等…
* 低電容、電流探測裝置
* 高電壓探測裝置
* 雷射切割裝置
* CCD或C-MOS視頻成像裝置
* 各類探針夾具
* *真空泵
* 屏蔽箱
* 防振桌
* 適配器
* 轉接頭
* 電學測試設備
* 其它外圍組件
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