MarSurf XCR 20輪廓儀和粗糙度儀測量一體機是輪廓和粗糙度測量的理想選擇。一個測量站適合兩種測量任務, 包含 PCV / CD 120 驅動單元和 GD 25 粗糙度驅動單元和 MFW 250 B 測頭系統。兩個驅動單元均使用聯合支架安裝在測量立柱。
組合“輪廓和粗糙度“測量任務使用的測量站 - MarSurf XCR 20
描述
組合“輪廓和粗糙度“測量任務使用的測量站 - MarSurf XCR 20MarSurf XCR 20 組合測量站是輪廓和粗糙度測量的理想選擇。
此測量站包含 PCV / CD 120 驅動單元和 GD 25 粗糙度驅動單元和 MFW 250 B 測頭系統。
兩個驅動單元均使用聯合支架安裝在測量立柱 (ST 500/ST 750)上，可用于粗糙度 (GD 25) 或輪廓（PCV 或 CD 120）測量。
結合 XCR 20 測量和評定軟件，此測量站配置可用作通用型測量站測量粗糙度深度和輪廓。
主要優勢有：
一個測量站適合兩種測量任務
* 使用經過檢驗和測試的 PCV 200 輪廓驅動和測頭系統（如上文所述）。
* 使用高精度 GD 25 和 MFW 250 B 測頭和高分辨率測量系統測量粗糙度
另外，此聯合測量站還可改裝為 XC 20 配置。換句話說，如有需要，您可使用 PCV / CD 120 驅動單元方便地將 XC 20 測量站升級為聯合測量站。只需添加 GD 25 驅動單元和聯合支架。軟件需要從 XC 20 升級為 XCR 20。
技術參數:
接觸速度(Z方向) | 0.1-1mm/s |
測桿長度 | 175mm，350mm |
測量速度（文本） | 0.2mm/s至4mm/s |
針尖半徑 | 25 |
掃描長度末尾（X方向） | 200mm |
分辨率 | Z方向，相對探針針頭： 0.38μm（350mm測桿）/0.19μm（175mm測桿） Z方向，相對測量系統：0.04μm |
掃描長度開始（X方向） | 0.2mm |
取樣角 | 在平滑表面上，取決于偏差：后緣高至88°，前緣高至77° |
定位速度（文本） | X方向返回速度：0.2至8mm/s Z方向：0.2至10mm/s |
導塊偏差 | ＜1μm（200mm以上） |
測量原則 | 探針法 |
輸入 | R測頭，MFW250 光學測頭Focodyn*、LS 1*、LS 10* （*僅結合PGK或GD 120 CNC驅動裝置） |
測量范圍mm | （in Z）50mm MFW 250：±25μm，±250μm，（±750μm）；±1000μm,±10000μm（±30000μm） |
掃描長度（文本） | 自動；0.56mm；1.75mm；5.6mm；17.5mm，56mm， （.022/.070/.224/.700/2.240英寸） 測量至擋塊，可變 |
采樣長度數量符合ISO/JIS | 1至50（默認：5） |
測量力(N) | 1mN至120mN左右（可在MarSurf XC 20中設置） |
測量站配件
標準
MarSurf XCR 20
包含 Midrange 標準控制單元、 XCR 20 軟件、 Mahr 許可密鑰
MarWin PC*
TFT 24“ 顯示器
MCP 21 手動控制面板
GD 25 驅動單元
MFW 250 B 測頭系統套件
PCV 200 驅動單元
標準輪廓校準套件
ST-500 測量立柱
GD 25 和 PCV 聯合支架
CT 300 XY 工作臺
可選：
PPS 平口虎鉗
