產品簡介：15JE測量顯微鏡可進行直角座標中的長度測定（如測定孔距、基面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑等）、轉動度盤的角度測定（如對刻度盤、樣板、量規(guī)、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件的角度測量）、顯微觀察（以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業(yè)的礦石標本，檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等）。
產品型號 | 15JE測量顯微鏡 |
技術參數 | 1、目鏡：倍率5×，焦距5mm 2、物鏡：倍率2.5×、10×，數值孔徑0.08、0.25，焦距43.4mm、17.13mm 3、總放大倍數：25×、100× 4、工作距離：58.84mm、7.81mm 5、視場直徑：5.6mm、1.4mm 6、移動測量范圍：X軸50mm、Y軸13mm 7、測微器分度值：0.001mm 8、測量臺：移動范圍不限，刻度盤分度范圍0-360°，刻度盤分度值1°，刻度盤游標讀數示值6' 9、示值誤差：±（5+L/15）µm（測量地點溫度變化20℃±3℃，L為被測件長度，單位為mm） 10、測量臺與物鏡大距離：80mm 11、測量工作臺直徑：Φ120mm 12、光源：自然源 |
產品規(guī)格 | 尺寸：262mm×220mm×325mm；重量：10.6kg |
可選配件 | 40×平場物鏡 |
