日本富士fujiwork超薄薄膜測厚儀HKT-1216

消除測量者的偏差舒適，準確地測量1μm或更小的超薄膜

* 1線性度是
　　顯示是否可以與測量頭的位移量成比例顯示的比率。　　位移量
　為±0.2％
/ 100μm±0.2μm
　　位移量/ 500μm±1μm
　　位移量/ 1000μm±2μm
　　（測量誤差因位移量而異）

• 重復性/ 0.05μm
  （使用升降器重復上下觸控筆）
• 測量分辨率/ 0.01μm
• 線性度/±0.2％*　1
• 可以改變測量壓力（z小測量壓力0.14N）
• 米/ R30超硬球面
• 測量范圍/ 200μm　* 2
• 測量架/測量表面Φ50陶瓷制成
• 輸出/模擬和RS232C
• 電源/ AC100V
• 選件/
  ?軟件?數(shù)據(jù)打印機?更換筆
  ·真空臺·外部置零開　　　　　　　　　

• * 2根據(jù)被測物體的材質，測量范圍可能會改變。

*注意* HKT-1240已因放大器單元的停產而停產。HKT-1216將替代HKT-1240。