PCT飽和加速壽命試驗機
PCT飽和加速壽命試驗機主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTzui主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。
特點
◆ 真空泵浦設計(鍋爐內空氣抽出)提高壓力穩定性、再現性
◆ 超*實驗運轉時間,長時間實驗機臺運轉300小時
◆ tank干燥設計,試驗終止采真空干燥設計確保測試區(待測品)的干燥
◆ 水位保護,透過爐內水位Sensor檢知保護
◆ tank耐壓設計,箱體耐壓力(140℃)2.65kg,符合水壓測試6k
◆ 二段式壓力安全保護裝置,采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置
◆ 安全保護排壓鈕,警急安全裝置二段式自動排壓鈕
技術參數
Models | BYST-S |
Inside Dimensions | φ22 X 33(L) |
Outside Dimensions | 69X90X63 |
Inside capacity(Liter) | 12 |
Internal material | Stainless steel#316 |
External material | SECC |