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ICT治具測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)PCB板上的探針點(diǎn)預(yù)留

參考價(jià)	￥ 16
訂貨量	≥1 套

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱深圳市千百順科技有限公司
品牌其他品牌
型號(hào)Q518D
所在地深圳市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2020/10/14 10:44:27
訪問(wèn)次數(shù)298

產(chǎn)品標(biāo)簽:

PCB板上的共同測(cè)試點(diǎn)探針指示點(diǎn)功能測(cè)試點(diǎn)PCB板電子元器件短路開(kāi)路焊點(diǎn)連點(diǎn)

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

公司專業(yè)生產(chǎn) 銷售 ICT測(cè)試儀 FPC測(cè)試儀柔性線材測(cè)試機(jī) 國(guó)內(nèi) 質(zhì)量三包深圳市千百順科技有限公司成立于2009年，是一家專業(yè)從事電路板檢測(cè)試儀器設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)于一體的高科技公司。從事ICT在線測(cè)試儀、 ICT針床治具、功能測(cè)試機(jī) （FCT）、測(cè)試系統(tǒng)集成（TSI）、自動(dòng)測(cè)試與控制系統(tǒng) （ATE）、BGA 測(cè)試解決方案等，是現(xiàn)代電子企業(yè)*PCBA生產(chǎn)的測(cè)試設(shè)備，使用廣，測(cè)量準(zhǔn)確性高。

公司緊隨電子制造業(yè)飛速發(fā)展，經(jīng)濟(jì)低迷的趨勢(shì)，不斷研發(fā)，改進(jìn)技術(shù)，完善工藝，嚴(yán)格品質(zhì)管理，減少成本的原則，通過(guò)本公司的努力，己經(jīng)在行業(yè)內(nèi)引起眾多客戶好評(píng)，客戶遍布珠三角及全國(guó)各地區(qū)。　　

公司位于深圳市寶安區(qū)福永鎮(zhèn)，交通便利，環(huán)境優(yōu)美。更擁有各類專業(yè)高級(jí)人才，能確保準(zhǔn)時(shí)、保質(zhì)的為客戶提供各類產(chǎn)品及售后服務(wù)。

展開(kāi)顯示更多內(nèi)容

從事ICT在線測(cè)試儀、 ICT針床治具、功能測(cè)試機(jī) （FCT）、測(cè)試系統(tǒng)集成（TSI）、自動(dòng)測(cè)試與控制系統(tǒng) （ATE）、BGA 測(cè)試解決方案等

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

測(cè)量范圍	0.05Ω-100MΩ	測(cè)量精度	100
外形尺寸	1000mmx750mm×1600mmmm	用途	短路開(kāi)路焊點(diǎn)連點(diǎn)的測(cè)試
重量	45kg

ICT治具測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)PCB板上的探針點(diǎn)預(yù)留
1.定位孔采用非金屬化的定位孔，誤差小于0.05mm。定位孔周圍3mm不能有元件。
2.測(cè)試點(diǎn)直徑不小于0.8mm，測(cè)試點(diǎn)之間的間距不小于1.27mm,測(cè)試點(diǎn)離元件不小于1.27mm，否則錫會(huì)流入到測(cè)試點(diǎn)上。
3.如果在測(cè)試面放置高度超過(guò)4mm的元器件，旁邊的測(cè)試點(diǎn)應(yīng)避開(kāi)，距離4mm以上，否則測(cè)試治具不能植針。

ICT治具測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)PCB板上的探針點(diǎn)預(yù)留產(chǎn)品信息

ICT治具如何預(yù)留測(cè)試點(diǎn)

1.定位孔采用非金屬化的定位孔，誤差小于0.05mm。定位孔周圍3mm不能有元件。

2.測(cè)試點(diǎn)直徑不小于0.8mm，測(cè)試點(diǎn)之間的間距不小于1.27mm,測(cè)試點(diǎn)離元件不小于1.27mm，否則錫會(huì)流入到測(cè)試點(diǎn)上。

3.如果在測(cè)試面放置高度超過(guò)4mm的元器件，旁邊的測(cè)試點(diǎn)應(yīng)避開(kāi)，距離4mm以上，否則測(cè)試治具不能植針。

4.每個(gè)電氣節(jié)點(diǎn)都必須有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，每個(gè)IC必須有POWER及GROUND的測(cè)試點(diǎn)，且盡可能接近此元器件，距離IC 2.5mm范圍內(nèi) 。
   5.測(cè)試點(diǎn)不可被阻焊或文字油墨覆蓋，否則將會(huì)縮小測(cè)試點(diǎn)的接觸面積，降低測(cè)試的可靠性。
    6.測(cè)試點(diǎn)不能被插件或大元件所覆蓋、擋住。
    7.不可使用過(guò)孔或DIP元件焊點(diǎn)做測(cè)試點(diǎn)。