▎ 原子力顯微鏡測試(AFM) 適用領域
原子力顯微鏡，可以在大氣和液體環境下對各種材料和樣品進行納米區域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。廣泛應用于半導體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫藥研究和科研院所各種納米相關學科的研究實驗等領域中。
▎ 面向學科
材料、物理、化學
▎ 樣品要求
1. 薄膜樣品：直徑小于12 mm，高度小于3 mm，要求樣品上下表面平整，高低起伏小于1μm，如尺寸超過范圍需收取相應加工費
2. 液體樣品：請配好膠體溶液，保證樣品均勻分散，要求無沉積，溶液澄清透明。樣品如需超聲或稀釋請事先說明，稀釋請提供相應的溶劑（去離子水除外），并說明稀釋倍數。液體樣品一般涂到新鮮解離的云母片上，如樣品在云母片上吸附不好，請客戶自行將樣品涂到其他底材上（如硅片）進行測樣；
3. 固體粉末樣品：由于AFM是盲掃，對樣品的分散性要求非常高，因此最好是以液體的形式進行測試。固體粉末樣品一般只適合溶解性或分散性較好的樣品，通常提供不超過30 min的超聲預處理，溶劑由客戶提供（去離子水除外），并由客戶提供詳細的制樣條件
4. 生物樣品：蛋白、細胞及DNA等樣品，請提供詳細的制樣過程，由于溶液中含有鹽，因此請調好濃度，減少鹽對測試結果的影響
5. 由于樣品分布的不均勻性，請客戶提供樣品的SEM或TEM圖，或者提供參考文獻中AFM的效果圖，以提高結果的準確性
備注：請客戶提供樣品的成分信息，如樣品具有腐蝕性、傳染性等危害，請在寄樣前確認能否測量，并提供相應的防護措施
▎ 測試儀器
儀器名稱 | 原子力顯微鏡 |
儀器型號 | Bruker Dimension Icon |
儀器廠家 | 美國Bruer |
關鍵字 AFM、原子力 | 關鍵字 AFM、原子力 |
▎ 原子力顯微鏡測試(AFM) 測試優勢
1) 低漂移和低噪音水平；
2) 配置有專有ScanAsys原子成像優化技術，可以簡易快速穩定成像；
3) 測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；
4) 溫度補償位置傳感器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現高分辨率。；
5) 全新的XYZ閉環掃描頭在不損失圖像質量的前提下大大提高了掃描速度；
6) 測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；
