J200飛秒激光剝蝕進樣系統（LA）應用于生物醫學、半導體、環境和國防領域，ASI公司具有80多年LIBS技術的研究經驗及其團隊在激光剝蝕領域具有很高的聲望，對于激光、光譜儀器、成像系統、計算及電子器件具有豐富的經驗，發表學術論文300余篇，其本人從事激光與材料相互作用機理及相關應用研究達30余年，J200飛秒激光進樣系統可與市面上的普通四級桿質譜儀、飛行時間質譜儀和多接收質譜儀等常見質譜儀聯用。
設備優勢：
1、J200飛秒激光進樣系統可與市面上的普通四級桿質譜儀；
2、飛秒激光源技術已經應用于醫療領域；
3、組裝方式簡單，方便對輸氣管道進行定期清理；
4、主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度剖析、元素映射，等等；
5、數字化質量流量控制器和電子控制閥，用于氬氣、氦氣及補充氣體的輸送；
6、配備了雙高分辨率CMOS成像攝像機，J200飛秒激光剝蝕進樣系統可以提供廣角視野和高倍成像；
7、系統采用了一種自動調高傳感器，該傳感器的設計考慮到了樣品表面的形態變化。
樣品可視化：
軟件特點：
J200飛秒激光剝蝕進樣系統（LA）術可靠性提升到一個新高度，可應用于礦物元素定量分析、鋯石U-Pb定年、礦物熔體和流體包裹體分析、微區同位素分析和定年技術研究等地質研究領域，并在所有采樣點上實現一致的激光剝蝕，這一創新的傳感器特性是由應用光譜公司的科學團隊研發的一項技術，具備三種照明模式來提高圖像質量和對比度：擴散式LED光源，透射光和同軸反射光，光的強度和顏色可控。
