半導體材料研究和器件測試通常要測量樣本的電阻率和霍爾電壓。半導體材料的電阻率主要取決于體摻雜，在器件中，電阻率會影響電容、串聯電阻和閾值電壓。霍爾電壓測量用來推導半導體類型(n還是p)、自由載流子密度和遷移率。為確定半導體范德堡法電阻率和霍爾電壓，進行電氣測量時需要一個電流源和一個電壓表。為自動進行測量，一般會使用一個可編程開關，把電流源和電壓表切換到樣本的所有側。A-SCS參數分析儀擁有4個源測量單元(SMUs)和4個前置放大器(用于高電阻測量)，可以自動進行這些測量，而不需可編程開關。
LDG-MIK升級款電磁流量計是根據法拉第電磁感應定律進行流量測試的流量計。電磁流量計的優點是壓損極小，可測流量范圍大。流量與流量的比值一般為10：1以上，適用的工業管徑范圍寬，可達3m，輸出信號和被測流量呈線性，度較高，可測量電導率≥5μs/cm的酸、堿鹽溶液、水、污水、腐蝕性液體以及泥漿、礦漿、紙漿等流體流量。
氧化性鹽類流量計
由于壓鑄過程中，模具溫度失控會造成主線縮痕，砂孔，裂縫，氣泡等缺陷，壓鑄行業的模具溫度需要通過紅外技術監控。那么，紅外技術是如何應用在壓鑄行業，保證模具溫度快速調整并安全作業的呢？對于模具的表面溫度進行實時監控在無需中斷生產流程的情況下，即可有效的防止鑄造過程中存在的各種問題，及時將其扼殺在萌芽狀態。由于不必要的使用溫度調節，壓縮空氣，水基潤滑劑，脫模劑等，造成加工過程中模具溫度過高或者過低對于零件的質量，模具的使用壽命，生產周期以及能源消耗和維護成本等產生不良的負面影響。
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