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Novocontrol Beta-T;Beta-N;Beta-K;Beta-L單單元介電分析儀、
電介質分析儀,用于電介質,電導率和阻抗譜以及增益相位測量
單單元介電分析儀Alpha和Beta
Alpha單單元介電分析儀
Beta單單元介電分析儀
電介質分析儀,用于電介質,電導率和阻抗譜以及增益相位測量
的阿爾法分析器 設有高質量的通用電介質,導電性,阻抗2電極光譜和增益相位測量。
的貝塔分析器具有相同的功能,但支持3和4的電極構造除了。
兩種分析儀都將高精密度的寬帶介電材料表征系統與用于中低阻抗范圍的典型阻抗分析儀結合在一起。這種結合使它們成為*且易于使用的儀器,具有出色的整體性能。
Beta和Alpha分析儀在一臺儀器中覆蓋16個數量級的阻抗范圍,13個數量級的頻率范圍和1m°基本相位精度。這種結合使它們成為用于電分析儀器的強大工具。結果,分析儀可以在寬的溫度范圍內測量幾乎所有寬帶的材料或組件的介電常數,電導率和阻抗,而無需更改樣品的幾何形狀或樣品池。
為了部分地補償電極-樣品界面的極化或接觸阻抗效應,可以有利地使用3或4電極技術。
Beta分析儀電壓通道的輸入阻抗為10 12 | 10 pF超出大多數競爭儀器的量程幾個數量級,因此可以看作是寬帶3和4電極測量的重大改進。
Beta和Alpha分析儀是功能更強大,更靈活的模塊化Alpha-A系列的前身和經濟型替代產品,可以通過一系列測試接口進行擴展,而Beta和Alpha系列則無法實現。這三個系列的詳細比較可以在這里找到。
特征
- 較寬的頻率范圍 3⋅10 -5 至4⋅10 7赫茲包括低頻率介電弛豫,電化學和高阻抗的效果的表征。
- 超寬阻抗范圍 10 -2 Ω?10 14 Ω(16個十年)覆蓋的范圍從導體好隔離器。
- 超寬的容量范圍 10 -15 .. 1 F允許對小容量低至1 fF的寬帶進行測量。
- 高相位和損耗因數tan(δ)的精度(0.002°和3 。 10 -5,分別地)用于低損耗介質材料及絕緣體寬帶表征。
- 由高級GPIB命令操作的單個集成設備,可在自己的程序或現有的測量設置中輕松,直接地實現。無需其他定制軟件,頻率響應分析儀,鎖定放大器或接口。
- 用戶自動進行自我校準和診斷, 消除了*的內部漂移并驗證了功能。
- 在整個頻率范圍內進行高次諧波測量,以進行阻抗和增益相位測量,以實現材料或信號中的非線性電響應。
- 高達40 MHz的精密數字頻率響應分析儀,用于兩個通道的增益相位測量,相位分辨率為0.001° ,幅度分辨率為10 -5。
- 可選的控制WinDETA軟件,用于總包校準,操作,數據評估,2維和3維圖形表示。
Alpha + Beta簡短規格
范圍 | |
頻率 | 3μHz... 40 MHz(13.1十年) |
阻抗 | 0.01Ω.. 10 14 Ω(16十年) |
電容 | 1 fF ... 1 F(15年) |
損耗因子tan(δ) | 10 -5 .. 10 4 |
交流信號輸出 | 100μV.. 3 Vrms |
直流偏置輸出 | −40 VDC .. + 40 VDC, 大70 mA ** |
信號發生器輸出阻抗 | 50Ω |
輸入電壓 | <±4.3 Vp直流或交流耦合 |
差分電壓輸入 (僅測試版) | |
輸入阻抗 | 10 12 Ω| 10 pF |
共模抑制 | 在100 kHz以下<10 -4在1 MHz以下 <10 -3 dB |
輸入偏置電流 | <2 。10 -12 安 |
基本精度 | |
相對阻抗, 相對容量, 損耗因子tan(δ) | <3 。10 -5 *** |
相位角 | <2 m°*** |
解析度 | |
相對阻抗, 相對容量, 損耗因子tan(δ) | <10 -5 |
相位角 | <0.6 m° |
用戶校準 | 負載,短路,開路,內部自校準和診斷 |
接口 | GPIB / IEEE488 |
軟件 | 具有在線圖形的WinDETA數據采集??軟件 |
*與Alpha-N,Alpha-T或Beta-N,Beta-T類型結合使用
**需要直流偏置選項B
***有關詳細信息,請參閱規格表
Alpha和Beta介電分析儀類型
可以使用以下具有不同頻率范圍的類型。
上限頻率 | 類型代碼 |
40兆赫 | Alpha-T或Beta-T |
20兆赫 | Alpha-N或Beta-N |
3兆赫 | Alpha-K或Beta-K |
0.3兆赫 | Alpha-L或Beta-L |
Alpha和Beta介電分析儀選項
以下大型機選項可用:
選項 | 附加類型代碼字母 |
直流偏置±40V,70mA | B(如果已安裝),其他缺少 |
注意:建議的具有佳性能/價格比的類型是Alpha-NB或Beta-NB(具有直流偏置的20 MHz)。
三極和四極測量
電極/界面極化效應
在兩個間距為d的平行平板電極之間制備的材料的測量中,根據電極電壓差U S和電流I S的相位敏感測量來評估復介電常數,電導率或阻抗。該方法假定通過產生恒定電場E = U S / d ,施加的電壓U S在材料內均勻下降。
如果在電極樣品界面處存在不均勻的電層,該電不均勻層會產生明顯的電壓降,從而降低樣品中的電場,則該假設將不成立。這樣的層可以通過
- 離子在諸如電解質和許多液體(水,電極極化)等離子導體的電極處積累的離子;
- 電極樣品接觸不良(接觸阻抗)。
對于低阻抗樣品,連接電極與分析儀電壓和電流端子的電纜的阻抗貢獻不可忽略,可能會產生類似的影響。
但是,原則上,如果使用如下所示的用于采樣電流和電壓測量的單獨電極,則可以抑制這些影響。
圖1:用于電極-樣品界面和電纜效應補償的四電極阻抗測量的原理設置。
外部的兩個電極對應于標準2電極配置的平行板。電壓由內部樣品區域中的兩個附加(例如環形或針形)電極測量,其中不存在界面效應,并且電場均勻。
如果使用具有無限輸入阻抗的儀器測量這兩個電壓,則流入電壓電極的電流可以忽略不計。結果,離子將不會在這里積累。由于電流可以忽略不計,因此觸點或電纜的阻抗貢獻也不會產生任何電壓降。在這種情況下,可以評估電壓電極之間的材料部分的電參數,而無需界面極化作用,也沒有電壓電極之間的電壓降和流過外部電極的電流產生的接觸或電纜效應。然而,唯1但實際上是至關重要且經常無法實現的要求是電壓通道的足夠高的輸入阻抗。
Novocontrol設備配置
- 帶有ZG4測試接口的Alpha-A分析儀系列
- 帶有POT / GAL測試接口的Alpha-A分析儀系列
- Beta分析儀系列
- NEISYS分析儀系列
都能夠以四線模式運行。對于NEISYS系列分析儀,這是專有的標準模式,而所有其他分析儀可以分別配置為三線和四線模式。
它們的輸入阻抗高于10 12 平行于為10pF,其通過幾個數量級超過大多數競爭文書的范圍,并因此可以看作是在寬帶三和四電極電介質,導電性的重大改進和電化學阻抗測量Ω 。
另一方面,特別是對于高頻下的高阻抗樣本,10 pF輸入容量可能與樣本容量的數量級相同,因此可能對測量結果有所貢獻。因此,在實踐中,三電極和四電極測量始終需要對流入電壓端子的電流以及觸點或電極界面處的相關壓降進行詳細分析。
兩種電極標準配置
對于大多數介電,電導率和阻抗材料的測量, 電極極化或接觸效應不太明顯。在這種情況下,具有在兩個平行板電極之間制備的樣品材料的標準配置是有利的。
這種安排很簡單,并且可以重現和靈活地制備樣品。然而,對于在不犧牲Alpha-A分析儀系列的 寬阻抗范圍和高精度的前提下,設計成可在較寬的頻率,阻抗和溫度范圍內工作的合適樣品池的設計要求仍然非常苛刻。
這種樣品池與安裝在池頭中的有源阻抗轉換器相結合,是通過ZGS測試接口實現的。與其他制造商提供的其他測試接口和解決方案不同,在樣品電極位置了ZGS。因此,用戶不必擔心細胞對測量結果的貢獻,從而不會在乎人工制品。
所述ZG2接口包含相同的阻抗轉換器作為ZGS,但沒有集成樣品池。ZG2測試接口可以通過BNC端子連接到任何無源樣品池,例如BDS 1200或任何被測阻抗設備。
- Alpha-A模塊化測量系統
- ZGS活性樣品池
- ZG2測試界面
- HVB300測試界面
- HVB1000測試界面
- Alpha單體分析儀
- BDS1200樣品池
Novocontrol Beta-T;Beta-N;Beta-K;Beta-L單單元介電分析儀、
電介質分析儀,用于電介質,電導率和阻抗譜以及增益相位測量
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