北京柱狀活性炭廠家批發
傅里葉變換紅外光譜法FT-IR 紅外光譜可以測量分子的轉動態和振動態，從而可以得出關于被吸附物質中心及被吸附物質表面之間鍵合的性質。由于柱狀活性炭為黑色，對紅外輻射吸收強，同時表面不均勻的物理結構又加大了紅外光的散射，而且極易于采用紅外光譜分析。而傅里葉變換紅外技術(Four;ertransform infrared, spectroscopy, FT-IR)，由于采取了干涉光裝置，來啟全光譜的輻射在整個掃描期間始終照射在檢測器上，使光通量增大，分辨率提高。FT-IR 偏振性較小，可以累加多次，快速掃描后進行記錄。己成為柱狀活性炭表面官能團定性分析的有力工具。
熱重分析 根據不同官能團的熱穩定性不同，在惰性氣體中熱分析，得到樣品失重的微分曲線和積分曲線。失重曲線可間接反映出柱狀活性炭的表面結構尤其是表面官能團的種類。
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X射線光電子能譜XP Sxps (天ray photoelectron spectroscopy)是一種有效的監測表面化學結構的分析手段，采用Gaussion/Lorent;zian 函數所得譜圖進行曲線擬合，該技術依據愛因斯坦的光電效應來測定表面元素的原子的價電子或內層電子的結合能。原子被高能x射線轟擊，能發射出的電子或內層電子的結合能。原子被高能X射線轟擊，能發射出的光電子其平均逃逸深度為0.5~2nm，故只能探測位于表面的物種。其主要用途是用于測定由表面元素引起發射光電子的結合能發生位移的化學環境的變化。通過對特定的原子的鍵能進行掃描不僅可以定量測定樣品表面的元素組成，而且可以分析元素的結合形式。
