Thick800AX射線測厚儀是天瑞集多年的經驗，專門研發用于鍍層行業的一款儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及移動平臺。是一款功能強大的儀器，配上專門為其開發的軟件，在鍍層行業中可謂大展身手。
X射線測厚儀是解決鍍金層，鍍銀層，鍍鎳層厚度測試的儀器，具備無損分析，快速測試，簡便操作的特性，分析范圍是0-50微米，不同的鍍層種類都有特定的極限穿透厚度，其分析精度達0.005微米，thick800aX射線測厚儀由江蘇天瑞儀器公司研發，生產的，的高科技分析儀，產品榮獲國家分析儀器產品獎。隨著市場競爭日益激烈，企業成本的不斷提高，客戶對X射線測厚儀（THICK800A)的測試精度要求越來越高，普通的電鍍膜厚測試儀無法滿足客戶的要求，X射線測厚儀通過X射線照射，不同元素的發射出不同能量及強度的X光，通過接收器及軟件分析來分析金屬（鋁合金、銅合金）電鍍層（鍍鋅、鍍鎳、鍍金、鍍銀、鍍錫等）的厚度，天瑞儀器是X射線測厚儀（國產）廠家，*無損分析，多一次分析五層，薄可分析0.005μm，采用上照式照射，移動探測器和X光管上下可動，可以對凹面和凸面達到更好的測試效果，完成下照式對某些特殊樣品無法測試的效果。
優惠的X射線測厚儀性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
優惠的X射線測厚儀技術指標
型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測量重復性可達0.1%
*工作穩定性可達0.1%
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
標準配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
