PCT老化試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。
老化試驗箱廣泛應用于線路板，多層線路板，IC，LCD，磁鐵等產品之密封性能的檢測，測試其制品的耐壓性，氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。
PCT老化試驗箱在使用應注意以下幾點要求：
1、滿負荷工作，每一臺試驗機都有它的有效測量范圍，不要超過滿量程80%。長時間滿量程工作，會對設備使用精度和壽命降低。
2、微機控制電子拉力試驗機，微機和拉力試驗機的連接線一定要按照說明書來進行鏈接，避免鏈接錯誤燒壞電器件。
3、試驗速度選擇不合適：每種材料試驗速度都有相應的國標要求，速度選擇不對不僅影響設備壽命，而且測試結果也會不準確。
4、PCT試驗機試驗完成離開實驗室時要把拉力試驗機和微機電源關閉，一方面節約電，一方面為了保證安全和電器件的使用壽命。
5、做完試驗不用時，一定卸掉拉斷的被測試樣，避免夾具長時間受力變形，方便下次使用。
