OMS材料物理光學(xué)屬性測(cè)量?jī)x用于測(cè)量光學(xué)材料表面BRDF光學(xué)屬性以及材料體光學(xué)屬性，測(cè)量出的數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的擬合，得出.BRDF格式的文件，這些文件都攜帶了材料的表面光學(xué)屬性和體光學(xué)屬性。這些數(shù)據(jù)文件可在OMS2支持軟件中直接讀取，在OMS2支持軟件的協(xié)助下完成雜散光仿真分析處理。國(guó)內(nèi)外用戶有拜爾材料、洛克希德馬丁、NASA、三星、LG、航天508所、中航工業(yè)上海航kong電器有限公司等。

OMS材料物理光學(xué)屬性測(cè)量?jī)x

雙向反射分布函數(shù)（Bidirectional Reflectiondistribution function, BSDF）是研究物體表面粗糙度之光學(xué)性質(zhì)。由于物體表面上有凹凸不平的微小表面，一束入射光線射到表面而產(chǎn)生反射現(xiàn)象，用BRDF 來(lái)表示這種反射（散射）現(xiàn)象。其中雙向（Bidirectional）系指入射光與接受散射光的方向，因不同的入射光角度所產(chǎn)生的散射性質(zhì)亦不相同。BRDF 主要應(yīng)用在計(jì)算機(jī)仿真物體表面明亮度，與真實(shí)人眼所看物體之明亮度相符；另外可應(yīng)用在背光模塊之光學(xué)模擬，例如擴(kuò)散膜之散射性質(zhì)。

測(cè)量波段

   OMS2測(cè)量系統(tǒng)可獲得測(cè)量、提取材料在可見(jiàn)光以及近紅外波段的光學(xué)屬性，具體測(cè)量波段是400nm—670nm

測(cè)量結(jié)果

（1）材料表面光學(xué)屬性BRDF

a. 材料BRDF點(diǎn)陣數(shù)據(jù)

在使用OMS2測(cè)量材料時(shí)，儀器中的光電倍增管（PMT）在2π空間內(nèi)接受樣品反射以及透射的光能量數(shù)據(jù)，因此測(cè)量后會(huì)得到離散型的點(diǎn)陣數(shù)據(jù)。

b. 材料BRDF文件數(shù)據(jù)

離散型數(shù)據(jù)直接被使用于軟件仿真并不精確，所以所得的離散型數(shù)據(jù)必須經(jīng)過(guò)數(shù)據(jù)處理才可使用，OMS2系統(tǒng)的工作站中帶有由OPTIS研發(fā)出來(lái)的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，經(jīng)過(guò)OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的數(shù)據(jù)擬合、處理可得出精確的可直接使用.BRDF格式的文件

結(jié)果中可以查看光的不同入射角度，以及不同波長(zhǎng)時(shí)，光在材料表面反射、吸收的參數(shù)，并且還可查看反射的光型。

OMS2數(shù)據(jù)處理軟件

OMS2數(shù)據(jù)處理軟件內(nèi)含有OPTIS大量材料屬性數(shù)據(jù)庫(kù)，可對(duì)采集到的離散型數(shù)據(jù)進(jìn)行處理擬合，生成.BSDF格式的材料面光學(xué)屬性文件，以及.Material格式的材料體光學(xué)屬性文件。生成的材料光學(xué)屬性文件可在OMS2支持軟件中使用。