MX63/MX63L 半導體/FPD檢查顯微鏡

滿足電子行業需求

功能性

為滿足電子行業的人體工學和安全性要求而設計的附加功能以增強分析能力

MX63/MX63L 半導體/FPD檢查顯微鏡人性化

簡潔的顯微鏡設置使用戶調整和再調用系統配置變得更為輕松。

*的成像技術

我們成熟可靠的光學器件和優良的成像技術可獲得清晰圖像，并完成可靠檢測。

模塊化

用戶可通過選擇適合其應用的模塊進行系統定制。

*的分析工具

MX63系列的各種觀察功能可生成清晰的圖像，讓用戶能夠對樣品進行可靠的缺陷檢測。全新
照明技術以及奧林巴斯Stream圖像分析軟件的圖像采集選項為用戶評估樣品和存檔檢測結
果提供更多選擇。

從不可見到可見：MIX觀察與采集
通過暗場與明場、熒光或偏光等其他觀察方法結合使用，MIX觀察技術能夠獲得特殊的觀察圖像。MIX觀察技術可讓用戶發現用傳統顯微鏡難以觀察的缺陷。暗場觀察所用的環形LED照明器具有可四象限分段照明的定向暗場功能。該功能可減少樣品光暈，有助于觀察樣品的表面紋理。

西努光學創建于2003年，主營工業顯微鏡及制樣設備、鏡片測定設備，高速攝像系統、工業內窺鏡、機器視覺等工業及科研應用的檢測設備及系統集成。
西努光學秉承“以光學為核心，為客戶提供解決方案”的經驗思路，經過17年的努力，成為眾多企業、高校科研單位提供各種專業化的光學系統解決方案。并于2012 年導入SAP 管理系統，通過系統資源整合，為客戶提供更優質、快捷的專業化服務。
 2016年，我們積極引進*、檢測設備的同時導入制樣等配套設備以豐富我們實驗室平臺，以更好的為客戶提供現場體驗，從微米到納米滿足客戶從制樣到結果分析的一站式體驗服務。