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廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司

高溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀

參考價(jià) 40
訂貨量 ≥1
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱德國(guó)韋氏納米系統(tǒng)(香港)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號(hào)HMS-3300
  • 所  在  地香港特別行政區(qū)
  • 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間2020/1/8 12:50:29
  • 訪問(wèn)次數(shù)902
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First-Nano System GmbH

2003年          創(chuàng)立于德國(guó)德累斯頓工業(yè)大學(xué)(Dresden University of Technology)


2008年          香港成立德國(guó)韋氏納米系統(tǒng)(香港)有限公司  


2015年          上海成立德國(guó)韋氏納米系統(tǒng)(香港)有限公司中國(guó)代表處,負(fù)責(zé)中國(guó)區(qū)業(yè)務(wù)

德國(guó)韋氏納米系統(tǒng)成立以來(lái),一直為客戶想的更多,Thinking more !!!

產(chǎn)品范圍:

薄膜沉積/Thin Film Deposition 
E-Beam and Thermal Evaporation, PECVD, PLD, DLC, DC & RF Sputtering, Ion Beam Sputtering
刻蝕/Etching
RIE, DRIE, ICP, Ion Beam Milling, RIBE, Plasma, ALE
薄膜制程/Growth
ALD, PA-MOCVD, CNT, Graphene
表面處理/Surface Treatment
Ion Beam, PIII, Plasma, RTP
清洗/Cleaning
- Dry: Ion Beam, Plasma
- Wet: Megasonic, Brush, SC1, SC2, Piranha, O3DIW
其他/Other,
Device Testing System for Space Simulation, Heated Platens, Plasma Sources, Resist Stripping Systems

清洗機(jī),分析儀
加工定制
高溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀恒電流源(1nA~20mA)采用六級(jí)電流范圍設(shè)置,將可以接收的誤差降到低;范德堡法則轉(zhuǎn)換使用非接觸裝置有效降低儀器噪聲;軟硬件有針對(duì)性的設(shè)計(jì),確保每個(gè)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)均為多次測(cè)試的平均值,使儀器擁有非常好的數(shù)據(jù)重現(xiàn)性。
高溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀 產(chǎn)品信息

高溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn):

1、 可靠的精度及重現(xiàn)性
恒電流源(1nA~20mA)采用六級(jí)電流范圍設(shè)置,將可以接收的誤差降到低;范德堡法則轉(zhuǎn)換使用非接觸裝置有效降低儀器噪聲;軟硬件有針對(duì)性的設(shè)計(jì),確保每個(gè)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)均為多次測(cè)試的平均值,使儀器擁有非常好的數(shù)據(jù)重現(xiàn)性。
2、 產(chǎn)品小型化及操作簡(jiǎn)單化
小尺寸的磁場(chǎng)強(qiáng)度輸入系統(tǒng)使用永磁體和液氮低溫測(cè)量系統(tǒng)(77K),確保儀器操作非常簡(jiǎn)單;兩種不同尺寸的傳統(tǒng)樣品板(20*20mm6*6mm)及帶彈簧夾片的樣品板(SPCB),使得不同尺寸不同材料的薄膜樣品更容易測(cè)量,區(qū)別于傳統(tǒng)樣品板的彈簧夾片樣品板使得霍爾電極制作更方便且對(duì)樣品損傷更小。
3高溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀 I-V曲線及I-R曲線測(cè)量
采用圖表的方式,測(cè)量探針?biāo)狞c(diǎn)(ABCD)間電流-電壓及電流-電阻關(guān)系,并以此評(píng)判樣品的歐姆接觸好壞、了解樣品的基本的電學(xué)特性。
4、 多樣的實(shí)驗(yàn)結(jié)果
實(shí)驗(yàn)結(jié)果由軟件自動(dòng)計(jì)算得到,可同時(shí)得到體載流子濃度(Bulk Carrier Concentration)、表面載流子濃度(Sheet Carrier Concentration)、遷移率(Mobility)、電阻率(Resistivity)、霍爾系數(shù)(Hall Coefficient)、磁致電阻(Magnetoresistance)、電阻的縱橫比率(Vertical/Horizontal ratio of resistance)等等。

 

產(chǎn)品規(guī)格:

1、 主要儀器參數(shù) 
輸入電流:1nA ~ 20mA;

電阻率:10exp(-5) ~ 10exp7 Ω.cm;

載流子濃度:10exp7 ~ 10exp21 cm-3

遷移率:1 ~ 10exp7 cm2/Volt.sec;

磁場(chǎng)強(qiáng)度:0.37T, 0.55T,  1T, 0.25~1T變場(chǎng)磁體;

樣品測(cè)量板:PCB樣品板,SPCB彈簧樣品板,晶圓樣品板等;

樣品尺寸:5mmX5mm  ~ 20mmX20mm (可選配30mm或2inch大樣品板);

測(cè)量溫度:常溫,77K液氮浴;

2、 軟件操作環(huán)境 
XP / Win7 / Win8 / Win10環(huán)境下
3、 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
體載流子濃度、表面載流子濃度;
遷移率;

霍爾系數(shù);
電阻率,方塊電阻;
磁致電阻;
電阻的縱橫比率;
4、 儀器尺寸和重量
主機(jī)尺寸:360×300×105 mm (W×H×D) 磁體Kit尺寸:200×120×110 mm (W×H×D)
凈重:7.7千克;
5、 測(cè)量材料
Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO等所有半導(dǎo)體薄膜(P型和N)

    15168338725
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