TriStar II 3020比表面與孔隙度分析儀為全自動三站式比表面積和孔隙度分析儀，性價比高。它在保證數據精度和強大的數據處理能力同時，大大加快了分析速度，可滿足大多數研究需求。TriStar II也同時提供氪氣選配，可進行低比表面測量。該儀器還提供多種分析方法和數據處理，用戶可根據需要選擇不同的計算數據。

TriStar II 3020比表面與孔隙度分析儀特點

• 三個分析站同時運行，但又相互獨立。 三站BET比表面積的測量可以在20分鐘

  內完成。對于更多的樣品測試，四個TriStar可用一臺計算機控制。

• 氮氣測試比表面積zui低可達0.01m2/g。TriStar II也可使用于氬氣、二氧化碳和非腐蝕性氣體如丁烷、甲烷或其他輕烴類。氪氣選配可測量低至0.001m2/g的比表面積。

• 標配的P0管可連續測量飽和壓力。飽和壓力可選擇輸入、連續測量或在樣品管中測量等方式獲得。

• zui大進氣增量功能和定進氣量功能，可在縮短分析時間的同時，避免“錯過”重要數據點。

• 自由空間可選擇測量、計算或手動輸入等方式，靈活性大，滿足不同樣品的不同需求。

• 增強的產品功能包括：視頻剪輯、計算機和TriStar之間的以太網通信、內置電路測試和診斷的軟件、能夠通過互聯網進行遠程診斷、可兼容舊型號TriStar及 Gemini的數據。

• 2.75升，（可選配4L）大容量杜瓦瓶和超長樣品管，保證長時間分析測量。

• 可測量多達1000個數據點的等溫線，可分析得到足夠多的材料結構信息。

• 基于Windows的控制軟件，具有強大的數據處理功能、SPC報告、等溫吸附熱等。

• 可選不同的樣品制備站，流動/真空加熱等多種方式選擇。

• 設計精美，體積小，使用方便