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HAST電路板加速老化試驗(yàn)箱

參考價(jià)	￥ 100000
訂貨量	≥1 臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱廣東歐可檢測儀器有限公司
品牌
型號(hào)
所在地東莞市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2023/11/6 20:48:08
訪問次數(shù)886

產(chǎn)品標(biāo)簽:

HAST加速老化箱電路板老化試驗(yàn)箱加速老化試驗(yàn)箱

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公司介紹主營產(chǎn)品

廣東歐可檢測儀器有限公司是一家專業(yè)從事研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和銷售模擬可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備及各類檢測儀器的，生產(chǎn)基地位于廣東東莞。主要自行研發(fā)生產(chǎn)各種材料的力學(xué)性能/耐候(環(huán)境)性能及壽命測試的可靠性試驗(yàn)機(jī)、品質(zhì)檢測設(shè)備。客戶領(lǐng)域遍及科研、國防、院校、質(zhì)檢、LCD、LED、汽車、高分子、新能源、軌道交通、光電、精密電子、醫(yī)療、通訊、電器等科技產(chǎn)業(yè)。

公司致力于為客戶提供完善的產(chǎn)品及售后服務(wù)，我司在華東，華南，華北和西北地區(qū)均設(shè)有售后服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)。秉承“質(zhì)量為本、誠信為旨、致力創(chuàng)新、至誠服務(wù)”的企業(yè)理念。公司產(chǎn)品已被多家大型企業(yè)實(shí)驗(yàn)室采用，代表客戶有、CEC中國電子、上海大學(xué)、南京工業(yè)大學(xué)、ABB中國研究院、石油化學(xué)研究院、有色金屬研究院、中興、騰達(dá)、賽格導(dǎo)航、科勒衛(wèi)浴、晨光文具、江鈴汽車…

公司產(chǎn)品關(guān)鍵零部件均采用德國比澤爾、法國泰康、日本三菱、韓國TEMI，確保了產(chǎn)品的耐用性，時(shí)至今日歐可所制造的檢測儀器在各大實(shí)驗(yàn)室內(nèi)日復(fù)一日地使用，對(duì)提升各產(chǎn)業(yè)品質(zhì)做出了貢獻(xiàn)!

專業(yè)·品質(zhì)·服務(wù)·創(chuàng)新：為客戶提供專業(yè)化產(chǎn)品和服務(wù)，以真誠和實(shí)力贏得客戶的理解、尊重和支持。員工：信任員工的努力和奉獻(xiàn)，承認(rèn)員工的成就并提供相應(yīng)回報(bào)，為員工創(chuàng)造良好的工作環(huán)境和發(fā)展前景。市場為客戶降低采購成本和風(fēng)險(xiǎn)，為客戶投資提供切實(shí)保障。發(fā)展：追求永續(xù)發(fā)展的目標(biāo)，并把它建立在客戶滿意的基礎(chǔ)上。企業(yè)精神：自信、自律，自立、自強(qiáng)客戶。

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恒溫恒濕試驗(yàn)箱，鹽霧試驗(yàn)箱，PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱，氙燈老化試驗(yàn)箱，快速溫度變化試驗(yàn)箱，冷熱沖擊試驗(yàn)箱，臭氧老化試驗(yàn)箱，雙85濕冷凍試驗(yàn)箱，高低溫低氣壓試驗(yàn)箱，溫濕度振動(dòng)三綜合，加速度沖擊試驗(yàn)機(jī)，uv紫外線試驗(yàn)機(jī)，拉力試驗(yàn)機(jī)，二次元影像測量儀

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

波動(dòng)/均勻度	±0.5℃	適用范圍	本儀器是測試IC、LED、光伏、磁鐵、線路板等產(chǎn)品行業(yè)
外箱材質(zhì)	不銹鋼或鋼板噴塑烤漆	電源電壓	380v
分類	其他	工作室尺寸	φ250*300mm
功率	6kw	加工定制	是
內(nèi)箱材質(zhì)	SUS#304鏡面不銹鋼	外形尺寸	500500700mm
溫度范圍	100-145℃

HAST電路板加速老化試驗(yàn)箱用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

HAST電路板加速老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品信息

《店鋪內(nèi)所發(fā)布的各款試驗(yàn)設(shè)備價(jià)錢僅為象征性的展示,不能作為實(shí)際價(jià),實(shí)際價(jià)錢以歐可儀器業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報(bào)價(jià)單為準(zhǔn)》

　　產(chǎn)品詳情

　　用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件，和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。隨著半導(dǎo)體可靠性的提高，目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效，因此用來確定成品質(zhì)量的測試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間，采用了壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型：即PCT和USPCT(HAST)現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。

　　HAST電路板加速老化試驗(yàn)箱型號(hào)技術(shù)參數(shù)：OK-HAST-30、40、50、60

　　規(guī)格內(nèi):ф30x45、ф45x50、ф55x60、ф65x70

　　溫度范圍:+100℃～132℃

　　濕度范圍:可調(diào)10O%RH飽和蒸氣固定

　　壓力范圍:環(huán)境大氣壓+0.5—2kg/cm2

　　HAST電路板加速老化試驗(yàn)箱性能：操作環(huán)境需在室溫30℃以下且通風(fēng)良好之條件下進(jìn)行.

　　1.溫度范圍:110℃/132℃.(飽和蒸氣溫度).

　　2.濕度范圍:10O%RH.(飽和蒸氣濕度).

　　3.壓力范圍:0.5Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制點(diǎn)壓力(壓力容量3.5Kg/cm2).

　　4.時(shí)間范圍:0~999小時(shí)可調(diào).

　　5.溫度分布:(+/-)2.0℃.

　　6.升溫時(shí)間:RT~132℃約35分鐘內(nèi).(控制點(diǎn)溫度)