LJ30A3-10-Z接近開關CJF30-12KA
LJ30A3-10-Z接近開關CJF30-12KA
接近傳感器，是代替限位開關等接觸式檢測方式。以無需接觸檢測對象進行檢測為目的的傳感器的總稱。能檢測對象的移動信息和存在 信息轉換為電器信號，在換為電氣信號的檢測方式中，包括利用電磁感應引起的檢測對象的金屬體中產生的渦電流的方式，捕測體的接近 引起的電氣信號的容量變化的方式、利石和引導開關的方式。在JIS規格中，根據IEC60947-5-2的非接觸式位置檢測用開關，制定了JIS規格 (JISC8201-5-2低壓開關裝置、第5控制電路機器及開關元件、第2節接近開關)。在JIS的定義中，在傳感器中也能以非接觸方式檢測到物體的 接近和附近檢測對象有無的產品總稱為“接近開關”，由傳感器、靜電容量型、超聲波型、光電型、磁力型等構成。在本技術指南中，將檢測 金屬存在的感應型接近傳感器、檢測金屬及非金屬物體存在的靜電容量接近傳感器、利用磁力產生的直流磁場的開關定義的“接近傳感器”。
LJ30A3-10-Z/EX交直流接近開關
接近傳感器，是代替限位開關等接觸式檢測方式。以無需接觸檢測對象進行檢測為目的的傳感器的總稱。能檢測對象的移動信息和存在 信息轉換為電器信號，在換為電氣信號的檢測方式中，包括利用電磁感應引起的檢測對象的金屬體中產生的渦電流的方式，捕測體的接近 引起的電氣信號的容量變化的方式、利石和引導開關的方式。在JIS規格中，根據IEC60947-5-2的非接觸式位置檢測用開關，制定了JIS規格 (JISC8201-5-2低壓開關裝置、第5控制電路機器及開關元件、第2節接近開關)。在JIS的定義中，在傳感器中也能以非接觸方式檢測到物體的 接近和附近檢測對象有無的產品總稱為“接近開關”，由傳感器、靜電容量型、超聲波型、光電型、磁力型等構成。在本技術指南中，將檢測 金屬存在的感應型接近傳感器、檢測金屬及非金屬物體存在的靜電容量接近傳感器、利用磁力產生的直流磁場的開關定義的“接近傳感器”。
接近開關CGJ-A12-4APA
接近開關CGJ-A12-4APB
接近開關CGJ-A12M-2ANA
接近開關CGJ-A12M-2ANB
接近開關CGJ-A12M-2APA
接近開關CGJ-A12M-2APB
接近開關CGJ-A18-8ANA
接近開關CGJ-A18-8ANB
接近開關CGJ-A18-8APA
接近開關CGJ-A18-8APB
接近開關CGJ-A18M-5ANA
接近開關CGJ-A18M-5ANB
接近開關CGJ-A18M-5APA
接近開關CGJ-A18M-5APB
接近開關CGJ-A30-15ANA
接近開關CGJ-A30-15ANB
接近開關CGJ-A30-15APA
接近開關CGJ-A30-15APB
接近開關CGJ-A30M-10ANA
接近開關CGJ-A30M-10ANB
接近開關CGJ-A30M-10APA
接近開關CGJ-A30M-10APB
接近開關CGJ-E100-60ANA
接近開關CGJ-E100-60ANB
接近開關CGJ-E100-60APA
接近開關CGJ-E100-60APB
接近開關CGJ-E80-50ANA
接近開關CGJ-E80-50ANB
接近開關CGJ-E80-50APA
接近開關CGJ-E80-50APB
接近開關CLJ-A12-4ANA-G
接近開關CLJ-A12-4ANA-G3
接近開關CLJ-A12-4ANB-G
接近開關CLJ-A12-4ANB-G3
接近開關CLJ-A12-4ANC-G
接近開關CLJ-A12-4ANC-G3
接近開關CLJ-A12-4APA-G
接近開關CLJ-A12-4APA-G3
接近開關CLJ-A12-4APB-G
接近開關CLJ-A12-4APB-G3
接近開關CLJ-A12-4APC-G
接近開關CLJ-A12-4APC-G3
接近開關CLJ-A12A-4ALA
接近開關CLJ-A12A-4ALB
