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廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司

半導(dǎo)體測(cè)試儀 MOS管IGBT等器件靜態(tài)參數(shù)

參考價(jià)199.00
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       號(hào)ST-SP 2000
  • 所  在  地西安市
  • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間2023/9/13 11:30:57
  • 訪問(wèn)次數(shù)1633
規(guī)格
±2.5mV~2KV / ±1nA~100A199.00元99 件 可售
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| 公司簡(jiǎn)介:

      西安天光測(cè)控技術(shù)有限公司 是一家從事 半導(dǎo)體功率器件測(cè)試設(shè)備 研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的高科技技術(shù)企業(yè)。

       經(jīng)營(yíng)產(chǎn)品包括:晶體管圖示儀;

                     半導(dǎo)體分立器件測(cè)試篩選系統(tǒng);

                     Si / SiC / GaN 材料的 IGBTs / MOSFETs / DIODEs / BJTs / SCRs的電參數(shù)及可靠性和老化測(cè)試;

                     靜態(tài)測(cè)試(包括 IGEs / VGE(th) / VCEsat / VF / ICEs / VCEs 等);

                     動(dòng)態(tài)測(cè)試(包括 Turn_ON&OFF_L / Qrr_FRD / Qg / Rg / UIS / SC / RBSOA 等);

                     環(huán)境老化測(cè)試(包括 HTRB / HTGB / H3TRB / Surge 等);

                     熱特性測(cè)試(包括 PC / TC / Rth / Zth / Kcurve 等)各類全系列測(cè)試設(shè)備。

       一直以來(lái)被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件上游產(chǎn)業(yè)(設(shè)計(jì)、制造、封裝、IDM廠商、晶圓、DBC襯板)和下游產(chǎn)業(yè)(院所高校、電子廠、軌道機(jī)車、新能源汽車、白色家電等元器件的應(yīng)用端產(chǎn)業(yè)鏈)。

       公司團(tuán)隊(duì)匯集了來(lái)自國(guó)內(nèi)院校及電力電子行業(yè)的專家教授,擁有眾多的革命性創(chuàng)新技術(shù)。產(chǎn)品成熟可靠,久經(jīng)市場(chǎng)考驗(yàn),在替代進(jìn)口產(chǎn)品方面有著突出的優(yōu)勢(shì)。公司從產(chǎn)品到服務(wù),從技術(shù)咨詢到現(xiàn)場(chǎng)支持,可覆蓋功率器件的初始研發(fā)到規(guī)模化生產(chǎn)的整個(gè)領(lǐng)域。

       展望未來(lái),公司將全力發(fā)揮自身技術(shù)優(yōu)勢(shì),為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的專家級(jí)技術(shù)服務(wù)以及更多的經(jīng)典產(chǎn)品。


半導(dǎo)體器件測(cè)試設(shè)備
半導(dǎo)體測(cè)試儀 MOS管IGBT等器件靜態(tài)參數(shù)
本系統(tǒng)可自動(dòng)生成功率器件的I-V曲線,也可根據(jù)客戶的實(shí)際需求設(shè)置功能測(cè)試,直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)在失效分析,IQC來(lái)料檢驗(yàn)及高校實(shí)驗(yàn)室等部門(mén)有廣泛的應(yīng)用。系統(tǒng)生成的曲線都使用ATE系統(tǒng)逐點(diǎn)建立,保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。系統(tǒng)典型的測(cè)試時(shí)間是6 to 20ms,通常上百個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)曲線只需要幾秒鐘時(shí)間便可以展現(xiàn)出來(lái),數(shù)據(jù)捕獲的曲線可導(dǎo)
半導(dǎo)體測(cè)試儀 MOS管IGBT等器件靜態(tài)參數(shù) 產(chǎn)品信息

半導(dǎo)體測(cè)試儀 MOS管IGBT等器件靜態(tài)參數(shù)


品牌 :天光測(cè)控型號(hào) :ST-SP 2000
加工定制 :類型 :分立器件測(cè)試儀
測(cè)量范圍 :電壓2000V,電流100A精確度 :正負(fù)%0.1精度
儀表尺寸 :200*100*80mm適用范圍 :分立器件測(cè)試儀
儀表重量 :5kg工作電源 :220v
規(guī)格 :半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀


產(chǎn)品詳情
Product details

1系統(tǒng)配置簡(jiǎn)介

1.1 系統(tǒng)概述

天光測(cè)控ST-SP 2000是一款很具有代表性的新型半導(dǎo)體晶體管圖示系統(tǒng),本系統(tǒng)可自動(dòng)生成功率器件的I-V曲線,也可根據(jù)客戶的實(shí)際需求設(shè)置功能測(cè)試,直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)在失效分析,IQC來(lái)料檢驗(yàn)及高校實(shí)驗(yàn)室等部門(mén)有廣泛的應(yīng)用。系統(tǒng)生成的曲線都使用ATE系統(tǒng)逐點(diǎn)建立,保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。系統(tǒng)典型的測(cè)試時(shí)間是6 to 20ms,通常上百個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)曲線只需要幾秒鐘時(shí)間便可以展現(xiàn)出來(lái),數(shù)據(jù)捕獲的曲線可導(dǎo)入EXCEL等格式進(jìn)一步分析研究,是一款高效多功能的半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備。

半導(dǎo)體測(cè)試儀 MOS管IGBT等器件靜態(tài)參數(shù)

本系統(tǒng)使用方便,只需要通過(guò)USB或者RS232與電腦連接,通過(guò)電腦中友好的人機(jī)界面操作,即可完成測(cè)試。并可以實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)以EXCEL和WORD的格式保存。系統(tǒng)提供過(guò)電保護(hù)功能,門(mén)極過(guò)電保護(hù)適配器提供了廣泛的診斷測(cè)試。這些自我測(cè)試診斷被編成測(cè)試代碼,以提供自我測(cè)試夾具,在任何時(shí)間都可以檢測(cè)。對(duì)診斷設(shè)備狀態(tài)和測(cè)試結(jié)果提供了可靠地保證。


1.2 天光測(cè)控ST-SP 2000測(cè)試儀指標(biāo)

技術(shù)指標(biāo)

主極參數(shù)

控制極參數(shù)

指標(biāo)

標(biāo)配


指標(biāo)

標(biāo)配


主極電壓:

1mV-2000V


控制極電壓:

100mV-20V


電壓分辨率:

1mV


電壓分辨率:

1mV


主極電流:

0.1nA-100A

可擴(kuò)展1250A

控制極電流:

100nA-10A


電流分辨率:

0.1nA





測(cè)試精度:

0.2+2LSB





測(cè)試速度:

0.5mS/參數(shù)






1.3  天光測(cè)控ST-SP 2000測(cè)試系統(tǒng)是一套高速多用途半導(dǎo)體分立器件智能測(cè)試系統(tǒng),它具有十分豐富的編程軟件和強(qiáng)大的測(cè)試能力,可真實(shí)準(zhǔn)確測(cè)試下列各種大、中、小功率的半導(dǎo)體分立器件。

  


測(cè)試范圍 / 測(cè)試參數(shù)


序號(hào)

測(cè)試器件

測(cè)試參數(shù)


01

絕緣柵雙*功率晶體管

IGBT

ICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON;

VGEON;VF;GFS


02

MOS場(chǎng)效應(yīng)管

MOS-FET

IDSS;IDSV;IGSSF;  IGSSR;VGSF;VGSR;BVDSS;

VGSTH;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS


03

J型場(chǎng)效應(yīng)管

J-FET

IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON;

IDSS;GFS;VGSOFF


04

二極管

DIODE

IR;BVR ;VF


05

晶體管

(NPN型/PNP型)

ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO;

BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF


06

雙向可控硅

TRIAC

VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH-


07

可控硅

SCR

IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM;

IGT;VGT;IL;IH


08

硅觸發(fā)可控硅

STS

IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ;

VPK-;VGSW+;VGSW-


09

達(dá)林頓陣列

DARLINTON

ICBO; ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO;

BVCER;BVCEE;BVCES ;BVCBO;BVEBO;hFE ;

VCESAT; VBESAT;VBEON


10

光電耦合

OPTO-COUPLER

ICOFF、ICBO;IR;BVCEO;BVECO;BVCBO;BVEBO;

CTR;HFE;VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode)


11

繼電器

RELAY

RCOIL;VOPER;VREL;RCONT;OPTIME; RELTIME


12

穩(wěn)壓、齊納二極管

ZENER

IR;BVZ;VF;ZZ


13

三端穩(wěn)壓器

REGULATOR

Vout;Iin;


14

光電開(kāi)關(guān)

OPTO-SWITCH

ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF


15

光電邏輯

OPTO-LOGIC

IR;VF;VOH;VOL;IFON; IFOFF


16

金屬氧化物壓變電阻

MOV

ID+ ID-;VN+;  VN-;VC+ ;VCLMP-;VVLMP+ ;


17

固態(tài)過(guò)壓保護(hù)器

SSOVP

ID+ ID-;VCLAMP+, VCLAMP-;VT+、VT-;IH+、

IH-;;IBO+ IBO-;VBO+  VBO-;VZ+  VZ-


18

壓變電阻

VARISTOR

ID+;  ID-;VC+   ;VC-


19

雙向觸發(fā)二極管

DIAC

VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,



1.4系統(tǒng)曲線測(cè)試列舉
ID vs. VDS at range of VGS

ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD

RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS

IDSS vs. VDS
HFE vs. IC

BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEBO vs. IE

BVCBO vs. IC
VCE(SAT) vs. IC

VBE(SAT) vs. IC
VBE(ON) vs. IC (use VBE test)

VCE(SAT) vs. IB at a range of ICVF vs. IF



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