大量計算表明U70BL146標準盤形懸式陶瓷絕緣子串中出現劣化絕緣子時,其表面以及周圍空間電場分布變化明顯,平均變化幅度超過10%。局部區域電場明顯加強,將導致電暈放電加強。絕緣子表面電場的變化將導致電暈放電中紫外脈沖的數量以及功率發生變化。因此通過檢測絕緣子串一段時間內電暈放電中的紫外脈沖數量的變化,可判斷是否存在劣化絕緣子。
通過實驗室和現場實驗表明:當U70BL146標準盤形懸式陶瓷絕緣子串中出現劣化絕緣子時,放電加強,放電中的紫外脈沖數量將增多,對于110kV和220kV的相對放電變化率分別超過10%和8%,出現劣化絕緣子時的放電變化率大小不一定但會呈現相似的規律,即:絕緣子串出現劣化絕緣子后,放電變化率上升??拷鼘Ь€端的絕緣子劣化時,放電變化率上升大,可直接判定劣化絕緣子的位置。中部絕緣子若絕緣劣化,也會引起放電變化率的上升。實驗室和現場試驗證明了UV−I型絕緣子檢測儀能有效檢測劣化絕緣子。
該方法的優點是:檢測結果不受天氣影響,不需要和絕緣子接觸,成本較低,能實現定量檢測和在線檢測。缺點是對中部的絕緣子劣化檢測靈敏度較低。