高低溫沖擊試驗(yàn)箱

高低溫沖擊試驗(yàn)箱 產(chǎn)品特點(diǎn)及用途

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l         適用于電工、電子零部件、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料、軸承、顯示屏等各種材料，在溫度急劇變化環(huán)境下對產(chǎn)品的破壞性能試驗(yàn)；

l         試驗(yàn)箱上部為高溫區(qū)，下部為低溫區(qū)，試件放置在試驗(yàn)箱中部工作室內(nèi)，高溫沖擊時(shí)上風(fēng)門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門關(guān)閉，下風(fēng)門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)，如有需要還可以與環(huán)境溫度連通，形成三箱法實(shí)驗(yàn)；

l         試件靜止不動，避免了因試件移動帶來之諸多不便；

l         中英文界面，數(shù)字顯示，直觀易讀；

l         溫度偏移修正，滿足您更為準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)要求；

l         主要零部件采用進(jìn)口件，確保試驗(yàn)箱具有*的可靠性；

l         多重保護(hù)功能，確保試驗(yàn)箱具有*的可靠性。

執(zhí)行及滿足標(biāo)準(zhǔn)

l         GB-2423.1 低溫試驗(yàn)方法；

l         GB-2423.2 高溫試驗(yàn)方法；

l         GB-2423.22 溫度沖擊試驗(yàn)；

l         GJB150.5   溫度沖擊試驗(yàn)；

l         MIL-STD-810F-503.4

技術(shù)參數(shù)

l         溫度波動度：≤±0.5℃

l         溫度偏差：≤±2℃

l         高溫室升溫時(shí)間：RT～200℃ ≤30min

l         低溫室降溫時(shí)間：RT～-60℃ ≤60min

l         溫度恢復(fù) 時(shí) 間：≤5min

l         風(fēng)  門  開  啟：≤5s