NE9202靜態位移校驗器
這是一種便攜式效驗儀設備，可用于現場或實驗室。主要用于電渦流位移傳感器靜態特性的標定及電渦流位移傳感器配套位移測量儀表的標定。
技術參數：
1.校準精度：百分表精度技術指標校準范圍： 0~25mm;0~35mm;0-50mm
2.試件材料：40CrMoA
3.試件直徑：Φ75mm或Φ105mm大校準探頭Φ25mm
4.試件直徑：Φ105mm或Φ125mm大校準探頭Φ35mm
5.試件直徑：Φ150mm或Φ175mm大校準探頭Φ50mm
NE9202靜態位移校驗器
產品概述
ZA-BJZ-01型高精度靜態校準器采用高精度（大分辨率0.5μm、大精度1μm）直進式、大量程微分頭結構，體積小、攜帶方便。可用于高精度位移傳感器的靜態標定和校準。
特 點
采用全進口高精度大量程的微分頭結構，在位移改變的過程中，試件盤不會像現在市場上的其他產品一樣發生擺動或旋轉，而只會在軸向前后移動。為現有市場上精度高、量程大才、重復性的靜態位移校準器，大位移量程可達25mm。
技術指標
大量程:ZA-BJZ-01型25mm
試件盤直徑：ф108，可用于探頭頭部體直徑大ф36的電渦流傳感器
位移分辨率：0.5μm
微分頭精度：≤±1μm
系統精度：≤±2μm
外形尺寸：ZA-BJZ-01型200（長）×90（寬）×126（高）單位：mm（不含試件盤）
ZA-BJZ-02型400（長）×90（寬）×166（高）單位：mm（不含試件盤）
阿貝中心高：ZA-BJZ-01型118mm
ZA-BJZ-02型134mm
系統組成
ZA-BJZ型靜態校準器由高精度大量程微分頭、探頭安裝支架、微分筒安裝支架、底板、試件盤、探頭轉接套等幾部分組成。
