MPS-C-3X0磁體探針臺系統是世界上*個探針臺，能夠在被測試的器件上提供三維磁場控制。

真正*的設計使自旋電子器件的做晶圓級測試、納米電子和許多其他材料和器件在所需磁場中準確的測試和測量。自旋流和自旋矩振蕩器測試，磁模擬和識別復雜的多層結構的各向異性只是應用我們的MPS系統的幾個案例。

MPS系列磁體探針臺特點：

• MPS系列磁體探針臺是市場上*能提供在應用磁場中對任意兩或三維定位的探針臺，是自旋電子器件的特性和自旋電子學研究的一個終的探針臺解決方案。

• MPS系列磁探針臺是*在市場上提供的晶圓級別的矢量磁場探測的探針臺，特適合于在生產環境中自旋和磁電子器件測試。

• MPS系列磁體探針臺*可定制的，基于開源的LabVIEW的控制軟件，很容易與較常見的測試和測量設備集成。

• 高分辨率微定位器40、80、100和200tpi下探針的微米級定位螺釘。

• 數據收集和/或分析與廣泛的輸出格式和選項可用。

• 系統提供了三維霍爾探頭，以提供的穩定性和精度所施加的磁場通過閉環控制。

可選項：

• 升級為150mm或200mm晶圓。

• 擴展磁場均勻性/穩定性。

• 高分辨率顯微鏡。

• 用于探測期間的域成像偏振顯微鏡。            

• 升級射頻探針            

• 擴展溫度范圍探測          

• 相機的廣泛選擇          

• 晶片卡盤廣泛的選擇            

• 對micropositioners廣泛的選擇           

• 超真空泵        

• 受控環境測量