BKTEM-Dx熱電性能分析系統
關鍵詞：熱電材料，Seebeck系數，電導率， 電阻率，V-1裝置
產品介紹：
BKTEM-Dx熱電性能分析系統是我國熱電材料的設備，是國家材料計
劃中zui前沿裝備，是我國科研人員幾十年的精心參與和設計出來的熱電材料
測試儀，其測試性能遠超越國內外熱電材料測試儀，不僅可以用于塊體材
料同時也可以用于薄材料的測試，是目前國內高等院校和材料研究所的重要設
備。
對于熱電材料的研究，熱電性能測試是*的試驗數據。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數及電導率。主要原理和特點如下:
該裝置由高精度，高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫，采用四點法的方式精確測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
一、適用范圍：
1、精確地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數及電導率、電阻率。
3、塊體和薄膜材料測均可以測試。
4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。
5、擁有自身分析軟件，獨立分析，過程自動控制，界面友好。
6、國內高等院校材料系研究或是熱電材料生產單位。
7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領域、熱電制冷.
8、很多其他工業和研究領域-每年都會誕生新的應用領域。
二、技術特點：
·解決高溫下溫控精度不準的問題，靜態法測量更加直觀的了解產品熱電材料的真正表征物理屬性。
- 溫度檢測可采用J、K型熱電偶，降低測試成本。
·試樣采用*的焊偶機構，保證接觸電阻zui小以及測量結果的高重現性。
- 每次可測試1-3個樣品.
- 采用高級數據采集技術，避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差，可控溫場下同步測量賽貝克系數和電阻率。
三：主要技術：
測量溫度：室溫-600℃,800℃,1200℃ 可選
同時測試樣品數量：1個，2個，3個 可選
控溫精度：0.5K（溫度波動:≤±0.1℃）
測量原理：塞貝克系數：靜態直流電；電阻系數：四端法
測量范圍：塞貝克系數：0.5μV/K_25V/K；電阻系數：0.2Ohm-2.5KOhm
分辨率：塞貝克系數：10nV/K;電阻系數： 10nOhm
測量精度：塞貝克系數：＜±6％；電阻系數：＜±5％
樣品尺寸：塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長，薄膜材料：≥50 nm
熱電偶導距: ≥6 mm
電 流: 0 to 160 Ma
氣 氛：0 to 160 mA
加熱電極相數/電壓：單相，220V，
夾具接觸熱阻：≤0.05 m2K/W
