LJD-B型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
一、專業(yè)生產(chǎn)介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀價(jià)格 介電常數(shù)測(cè)試儀概述：
LJD-B型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)銷售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對(duì)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí)；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測(cè)試精度，并增加新的功能。但近期我公司發(fā)現(xiàn)，一些沒有研發(fā)能力的不良公司，盜版了我公司早期產(chǎn)品的軟件，仿制我公司的產(chǎn)品進(jìn)行銷售，給不了解情況的客戶將帶來(lái)?yè)p失。因?yàn)檫@些產(chǎn)品的軟件存在不足之處，（如在主電容調(diào)節(jié)至80pf左右時(shí)，電容指示值會(huì)出現(xiàn)跳變，出現(xiàn)180pf左右的指示值；在介質(zhì)損耗測(cè)試時(shí)，當(dāng)材料的損耗較大時(shí)，介質(zhì)損耗值會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤。）但又無(wú)法得到升級(jí)完善，產(chǎn)品沒有新增的功能。因此請(qǐng)廣大用戶注意識(shí)別。
二、專業(yè)生產(chǎn)介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀價(jià)格 介電常數(shù)測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：
信號(hào)源頻率范圍： DDS數(shù)字合成 10KHz-70MHz
Q測(cè)量范圍： 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
信號(hào)源頻率覆蓋比： 6000:1
Q分辨率： 4位有效數(shù),分辨率0.1
信號(hào)源頻率精度： 3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)
Q測(cè)量工作誤差： <5%
電感測(cè)量范圍： 15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH
調(diào)諧電容： 主電容30-500PF
電感測(cè)量誤差： <5%
調(diào)諧電容誤差和分辨率：±1.5P或<1%
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量頻點(diǎn)： 全波段任意頻率下均可測(cè)試
Q合格預(yù)置范圍： 5-1000聲光提示
諧振點(diǎn)搜索： 自動(dòng)掃描
Q量程切換： 自動(dòng)/手動(dòng)
諧振指針： LCD顯示
LCD顯示參數(shù)： F,L,C,Q,波段等
三、 介電常數(shù)測(cè)試儀夾具工作特性
1.平板電容器：
極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
4．測(cè)微桿分辨率：0.001mm
四、 介電產(chǎn)數(shù)測(cè)試儀配置：
主機(jī)一臺(tái)
電感九支
夾具一套
隨機(jī)文件一套
介電常數(shù)測(cè)試儀
LJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀使用方法
一 介電常數(shù)測(cè)試方法與步驟
1. 把S916測(cè)試夾具裝置上的插頭插入到Q表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
2. 在Q表電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時(shí)電感取250uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH。
3. 被測(cè)樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會(huì)使測(cè)試精度下降，樣品要盡可能平整。
4. 調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，使S916測(cè)試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設(shè)置為0。
- 再松開兩片極片，把被測(cè)樣品夾入平板電容上下極片之間，調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，直到平板電容極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時(shí)要用S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，以免夾得過(guò)緊或過(guò)松），這時(shí)能讀取的測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值，既是樣品的厚度D2。改變Q表上的主調(diào)電容容量，使Q表處于諧振點(diǎn)上。
- 取出S916測(cè)試夾具中的樣品，這時(shí)Q表又失去諧振，此時(shí)調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，使Q表再回到諧振點(diǎn)上，讀取測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4.
- 計(jì)算被測(cè)樣品的介電常數(shù):
Σ＝D2 / D4
二 介質(zhì)損耗測(cè)試方法與步驟
1. 把S916測(cè)試夾具裝置上的插頭插入到Q表測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
2. 在Q表電感端子上插上和測(cè)試頻率相適應(yīng)的高Q值電感線圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿足要求），如：1MHz 時(shí)電感取250uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH。
3. 被測(cè)樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間，樣品太薄或太厚就會(huì)使測(cè)試精度下降，樣品要盡可能平直。
4. 調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，使S916測(cè)試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設(shè)置為0。再松開兩片極片，把被測(cè)樣品夾入兩片極片之間，調(diào)節(jié)S916測(cè)試夾具的測(cè)微桿，到的平板電容極片夾住樣品止（注意調(diào)節(jié)時(shí)要用S916測(cè)試夾具的，以免夾得過(guò)緊或過(guò)松），這時(shí)能讀取的測(cè)試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值，既是樣品的厚度D2，變Q表上的主調(diào)電容容量，使Q表處于諧振點(diǎn)上，然后按一次 Q表上的小數(shù)點(diǎn)（tgδ）鍵，在顯示屏上原電感顯示位置上將顯示C0= x x x，記住厚度D2的值。
5. 取出S916測(cè)試夾具中的樣品，（保持S916測(cè)試夾具的平板電容極片之間距不變）這時(shí)Q表又失去諧振，再改變Q表上的主調(diào)電容容量，使Q表重新處于諧振點(diǎn)上。
