四探電阻率測試儀庫號：M399138四探電阻率測試儀庫號：M399138

四探電阻率測試儀/方阻儀(鍍層測厚儀) 型號:CD56-DMR-1C

庫號：M399138   CD56-DMR-1C型方阻儀是一種于測量塑料薄膜金屬鍍層方塊電阻的儀器。由于方阻與鍍層厚度成反比，也可以由方阻計算出鍍層厚度。

儀器配有的、帶彈簧的四探探頭。由于探帶彈簧，使得測試時壓力恒定，接觸可靠，測試穩(wěn)定，使用壽命長等特點(diǎn)

CD56-DMR-1C型方阻儀是一種于測量塑料薄膜金屬鍍層方塊電阻的儀器。由于方阻與鍍層厚度成反比，也可以由方阻計算出鍍層厚度。

儀器配有的、帶彈簧的四探探頭。由于探帶彈簧，使得測試時壓力恒定，接觸可靠，測試穩(wěn)定，使用壽命長等特點(diǎn)

一、 技術(shù)參數(shù)

1、測量范圍：1mΩ-20KΩ分為五個量程

其滿度值為:
1999mΩ
19.99Ω
199.9Ω
1999Ω
19.99KΩ

分辨率：
1mΩ
10mΩ
100mΩ
1Ω
10Ω

測試電流
100mA
10mA
1mA
0.1mA
0.01mA


2、1基本誤差：△=±2%

2、2 儀器部分的基本誤差±2%±2個字

2000mΩ檔為△=±2%±5個字

3、基本誤差：△=±0.1%±2個字

2000mΩ檔為△=±0.2%±2個字

4、工作環(huán)境：溫度5℃-40℃，濕度20%-80%RH

5、電 源：-220V±10%，50/60Hz，3VA

6、外形尺寸：寬200×高80×深200（mm）,

重1.5kg