吳經理
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產地 | 國產 |
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方塊電阻測試儀報價方塊電阻測試儀報價 型號:TZ240-ST-21庫號:M397541
方塊電阻測試儀是測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜等同類物質的薄層電阻。
該儀器以集成電路為;用基準電源和運算放大器組成穩流源;帶回路正常指示電路;并配以LCD顯示讀數。
特點
1采用集成電路作為儀器的主要部分;
2以LCD顯示讀數;
3采用單個電池供電,帶電池欠壓指示;
4體積≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
5手握式探筆,球形探針、鍍金探針接觸被測材料及保護薄膜
6探頭帶抗靜電模塊
技術指標
測量范圍
按方塊電阻量值大小分為二個量程檔:
1.方塊電阻 1.00~199.99Ω/□;
2.方塊電阻 10.0~1999.9Ω/□;
分辨率:0.01Ω/□
恒流源
測量過程誤差是:≤±0.8%
模數轉換器
量程:0~199.99mv;
分辨率:10μv;
方式:LCD顯示;過量程均自動顯示;小數點同步顯示;
測量不確定度
在整個量程范圍內,測量不確定度≤5%
四探針探頭規格
間距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ
電源
9V疊層電池1節
方塊電阻測試儀是測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜等同類物質的薄層電阻。
該儀器以集成電路為;用基準電源和運算放大器組成穩流源;帶回路正常指示電路;并配以LCD顯示讀數。
方塊電阻測試儀是測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器,可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜等同類物質的薄層電阻。
該儀器以集成電路為;用基準電源和運算放大器組成穩流源;帶回路正常指示電路;并配以LCD顯示讀數。